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儀器聚焦丨熱點重點大盤點 儀器行業(yè)本周要點速遞(2025年第23期)
儀器行業(yè)本周要點速遞(7月14-7月18日)。[詳細]
中國科大參與制定的半導體線寬測量標準正式發(fā)布
2020年03月09日 14:28:03
來源:化工儀器網(wǎng) 點擊量:6353

2020年3月6日,中國科學技術(shù)大學傳來好消息稱,標準化組織(ISO)正式發(fā)布了一項由中國科技大學技術(shù)大學物理學院和微尺度物質(zhì)科學國家研究中心丁澤軍團隊主導制定的標準:“基于測長掃描電鏡的關(guān)鍵尺寸評測方法”
【化工儀器網(wǎng) 行業(yè)動態(tài)】隨著社會的發(fā)展,中國與世界的聯(lián)系愈加緊密。無論是市場一體化,還是經(jīng)濟化的逐步深入,都表明中國必須更加積極主動的融入世界經(jīng)濟,而在這一過程中,參與制定規(guī)則不僅是提升地位、彰顯國家強盛的一種重要手段,更能有效推動中國的對外貿(mào)易發(fā)展,及保障本國安全、保護消費者權(quán)益。
為什么這么說呢?舉個簡單的例子,近日我國一批水果就因為不符合歐盟食品安全標準被警告通報,還有一批醬油被拒絕入境。技術(shù)壁壘作為一種正當合法的壁壘,影響著貿(mào)易的進行。因此,我國在開展對外交流的同時,也需要積極參與到標準的制修訂當中去,提升我國在交往中的話語權(quán)。
2020年3月6日,中國科學技術(shù)大學傳來好消息稱,標準化組織(ISO)正式發(fā)布了一項由中國科技大學技術(shù)大學物理學院和微尺度物質(zhì)科學國家研究中心丁澤軍團隊主導制定的標準:“基于測長掃描電鏡的關(guān)鍵尺寸評測方法”(Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM (ISO 21466))。據(jù)了解,該項標準屬于微束分析領(lǐng)域,是半導體線寬測量方面的標準,也是半導體檢測領(lǐng)域由中國主導制定的標準。
半導體行業(yè)的發(fā)展日新月異,對集成電路器件加工尺寸的控制也要求日趨精細,其中納米尺度線寬測量的精準性直接決定著器件的性能,納米器件尺度的準確和精確(精度<1 nm)測量技術(shù)對半導體行業(yè)的發(fā)展起著至關(guān)重要的作用。目前,人們已經(jīng)發(fā)展了多種測量技術(shù)手段,如原子力顯微鏡、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡和測長掃描電鏡(CD-SEM)等。
丁澤軍團隊發(fā)展了先進的用于掃描電子顯微術(shù)和表面電子能譜學的Monte Carlo模擬計算方法,并結(jié)合了“基于模型數(shù)據(jù)庫”(MBL)方法,提出了“基于測長掃描電鏡的關(guān)鍵尺寸評測方法”的ISO標準(IS)。
標準指定了利用CD-SEM成像表征刻蝕線寬的結(jié)構(gòu)模型及其相關(guān)參數(shù)、Monte Carlo模擬模型和成像掃描線計算方法、圖像匹配擬合程序和CD參數(shù)定值法等內(nèi)容。與傳統(tǒng)的方法相比,該方法能夠給出準確的CD值,并且把線寬測量從單一參數(shù)擴展到包含結(jié)構(gòu)形貌特征的信息,適用于如晶圓上的柵極、光掩模、尺寸小至10 nm的單個孤立的或密集的線條特征圖案。該標準不僅為半導體刻蝕線寬的CD-SEM準確評測確定了行業(yè)標準,也為一般性納米級尺寸的其它測量法提供了參考。
半導體行業(yè)是近些年快速發(fā)展的一個領(lǐng)域,其科研價值和經(jīng)濟價值都不容小覷,因此受到了諸多國家的關(guān)注。對我國來說,參與制定半導體相關(guān)的標準,不僅有助于促進半導體評測技術(shù)的發(fā)展,也有利于提升我國在半導體行業(yè)的影響力和競爭力。
資料來源:中科大
資料來源:中科大
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