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臺階儀設(shè)備中標(biāo)結(jié)果公告
2023年07月10日 11:44:40 來源:機(jī)電產(chǎn)品招標(biāo)投標(biāo)電子交易平臺 點(diǎn)擊量:4917

項(xiàng)目名稱:北京懷柔實(shí)驗(yàn)室2023年第四批科研設(shè)備采購項(xiàng)目,項(xiàng)目編號:1495-234thhrlab04/03,招標(biāo)范圍:產(chǎn)品名稱:臺階儀設(shè)備 數(shù)量:2臺 簡要技術(shù)規(guī)格:臺階儀是一種半導(dǎo)體芯片過程檢測設(shè)備,具體規(guī)格如下: 1)臺階儀1臺,用于金屬前道工藝量測硅片表面介質(zhì)膜干法刻蝕的臺階,重復(fù)性≤0.45埃; 2)臺階儀1臺,用于金屬后道工藝量測硅片表面介質(zhì)膜濕法腐蝕的臺階,重復(fù)性≤0.45埃。招標(biāo)機(jī)

  【化工儀器網(wǎng) 市場商機(jī)
 
  項(xiàng)目名稱:北京懷柔實(shí)驗(yàn)室2023年第四批科研設(shè)備采購項(xiàng)目
 
  項(xiàng)目編號:1495-234thhrlab04/03
 
  招標(biāo)范圍:產(chǎn)品名稱:臺階儀設(shè)備 數(shù)量:2臺 簡要技術(shù)規(guī)格:臺階儀是一種半導(dǎo)體芯片過程檢測設(shè)備,具體規(guī)格如下: 1)臺階儀1臺,用于金屬前道工藝量測硅片表面介質(zhì)膜干法刻蝕的臺階,重復(fù)性≤0.45埃; 2)臺階儀1臺,用于金屬后道工藝量測硅片表面介質(zhì)膜濕法腐蝕的臺階,重復(fù)性≤0.45埃。
 
  招標(biāo)機(jī)構(gòu):天恒招標(biāo)有限公司
 
  招標(biāo)人:北京懷柔實(shí)驗(yàn)室
 
  開標(biāo)時(shí)間:2023-06-30 09:30
 
  公示時(shí)間:2023-07-03 17:14 - 2023-07-06 23:59
 
  中標(biāo)結(jié)果公告時(shí)間:2023-07-07 14:24
 
  中標(biāo)人:瑞德儀實(shí)業(yè)有限公司
 
  制造商:Bruker Nano Inc.
 
  制造商國家或地區(qū):馬來西亞
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