CH-6JA 干涉顯微鏡
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京東立環(huán)宇電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 CH-6JA
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/7/1 11:33:17
- 訪問次數(shù) 516
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CH-6JA干涉顯微鏡
干涉顯微鏡是用來測量精密加工零件(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器,也可以用來測量零件表面刻線,鍍層等深度。儀器配對各種附件,還能測量粒狀,加工紋路混亂的表面,低反射率的工件表面。同時還能將儀器安置在工件上,對大型工件表面進行測量。 | ||||||||||
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