ETSys-Map在線薄膜測量系統(tǒng)
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京量拓科技有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/5/17 11:31:54
- 訪問次數(shù) 260
產品標簽
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| 產地類別 | 國產 |
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ETSys-Map在線薄膜測量系統(tǒng)是針對納米薄膜研發(fā)和質量控制領域中大面積樣品檢測專門設計的在線薄膜測量系統(tǒng)。
ETSys-Map在線薄膜測量系統(tǒng)用于對1.4m * 1.1m及以上的大面積樣品進行在線檢測。可測量光滑平面基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；并可同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k?？蓽y量樣品上區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表面的均一性分布。
ETSys-Map融合量拓科技在高精度激光橢偏儀的*技術和產品設計方面的經驗，性能。
特點:
微米量級的全面積掃描精度
*的系統(tǒng)設計，能夠使探頭到達樣品上每個點，掃描精度達到微米量級。
原子層量級的膜厚分析精度
采用非接觸、無破壞性的橢偏測量技術，對納米薄膜達到*的測量準確度和靈敏度，膜厚測量靈敏度可達到0.05nm。
簡單方便安全的儀器操作
用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進行高級測量設置。
采購中心
化工儀器網(wǎng)