Dimension HPI 布魯克Dimension HPI原子力顯微鏡
- 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Dimension HPI
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/1/26 21:37:32
- 訪問次數(shù) 1829
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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,化工,生物產業(yè),石油,能源 |
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布魯克Dimension HPI原子力顯微鏡
HPI維度-用于R / D / QA / QC / FA的具有成本效益的精密計量
Dimension®原子力顯微鏡（AFM）系列在為工業(yè)計量應用提供高的可用速度和性能方面享有悠久的聲譽。Dimension HPI和PRO系統(tǒng)是專為大批量生產環(huán)境而設計的，能夠自動測量多種A??FM模式，同時確保大程度的易用性和低的每次測量成本，以進行質量控制，質量保證和故障分析。這些系統(tǒng)使用接觸，敲擊和PeakForceTapping®模式技術，使用戶能夠精確地控制探針與樣品的相互作用，從而提供較長的探針壽命，并具有數(shù)千次測量的高精度結果。
•在苛刻的大批量環(huán)境中具有出色的計量性能和功能
•單個AFM平臺中的自動測量和靈活的靈活性
•支持從研發(fā)到量產批量的各種應用
•較可靠的平臺和的支持
適用于工業(yè)的布魯克AFM技術
Dimension平臺在聚合物，半導體，數(shù)據(jù)存儲，高亮度LED和顯示行業(yè)等領域擁有大的AFM安裝基礎。HPI利用開放訪問平臺，大樣本或多樣本支架以及眾多易于使用的功能，將原子力顯微鏡的強大功能帶給制造商，為您提供，*的解決方案QA / QC / FA中的納米級計量—經濟高效且可靠。
較廣泛的測量類型
從我們*的PeakForce攻絲模式到傳統(tǒng)AFM模式，Dimension HPI系統(tǒng)提供了大范圍和靈活性，可滿足您對各種樣品的特定測量和表征需求
高精度的粗糙度，深度和高度測量
尺寸HPI使用PeakForce攻絲和布魯克專有的高*壽命探針，可提供從亞納米級到高深寬比溝槽的高度可重復且精確的粗糙度，高度和深度測量。
較全面的缺陷審查特征
可以在各種晶圓，基板和滑塊上定位并表征納米級缺陷。PeakForceQNM®可以*地提供組合的3D成像和機械性能信息。
布魯克Dimension HPI原子力顯微鏡快速納米電測量
具有導電AFM（CAFM）的FastScan技術可以以高掃描速率執(zhí)行納米級電流測量，從而大大提高了故障分析測量的效率。通過使用小型磁力顯微鏡（MFM）懸臂，F(xiàn)astScan HPI和PRO使用PeakForce Tapping為MFM應用提供了超過10倍的掃描速率改進，并具有出眾的數(shù)據(jù)質量。PeakForce KPFM™提供高的空間分辨率和準確的表面電勢測量。PeakForce TUNA™提供敏感的電導率測量。
精確的納米級機械制圖
布魯克*的PeakForce QNM和FastForce Volume™納米級機械制圖模式可以精確制圖機械性能-模量，剛度，附著力，耗散和變形-同時成像樣品的形貌和電性能。利用PeakForce QNM，可以對聚合物，薄膜和納米級缺陷進行無損測量，而這些缺陷是無法通過透射電子或掃描電子顯微鏡技術進行測量的。
Dimension HPI和Dimension PRO平臺在 為工業(yè)計量應用
提供高可用
速度和性能方面享有悠久的聲譽。
配方窗口顯示了基于晶片的布局，用于在晶片內進行精確的用戶定義的XY測量位置。
自動測量多個樣品
AutoMET™全配方軟件提供快速，自動化的計量，簡單的操作和AFM適應性，可輕松捕獲關鍵到高質量的測量值。自動掃描地形，粗糙度，臺階高度，納米機械，納米電氣和其他計量模式。
易于使用，使每個用戶都成為AFM專家。
無論您的AFM經驗水平如何，都可以實現(xiàn)精確的測量。ScanAsyst算法與AutoMET軟件一起可自動連續(xù)監(jiān)控圖像質量并進行必要的參數(shù)調整。
簡便的測量配方創(chuàng)建功能使工程師可以通過名稱定義位置，分配任何類型以及在每個位置進行編號測量。
- 半導體：裸晶片粗糙度測量和缺陷檢定特性，納米節(jié)點電氣設備的特性和故障隔離以及精確的臺階高度和深度測量。
- 數(shù)據(jù)存儲：基于生產的較精確，分辨率和高通量的滑塊計量，介質基板粗糙度和缺陷檢查特性，以及出色的分辨率，晶圓，介質和滑塊的電氣和磁故障分析特性。
- 聚合物和薄膜：快速表征一個，數(shù)十個或數(shù)千個樣品，具有大的結果相關性，納米節(jié)點電氣設備的表征和故障隔離以及同時的形貌和機械性能映射。
- 高亮度LED和太陽能材料：自動化的HB-LED圖案藍寶石（PSS）深度和形狀計量，精確的HB-LED基板粗糙度以及HBLED和太陽能材料的電特性。
- 顯示器制造：用于顯示器開發(fā)的準確的納米級測量，自動測量納米級粗糙度以控制顯示質量以及在數(shù)千次測量后精確表征顯示器納米紋理
使用PeakForce QNM成像的多組分聚合物共混物的模量圖。明確存在三種不同的成分：淺藍色成分（A），深藍色成分（B）和紅色/黑色成分（C）。（7μm掃描）。
布魯克的原子力顯微鏡和高性能工業(yè)探頭可為較苛刻的關鍵質量納米級測量提供*且可靠的測量。
致力于保持您的正常運轉，并幫助您應對制造挑戰(zhàn)。
通過提高運營效率降低成本。
Dimension平臺在半導體，數(shù)據(jù)存儲，HB-LED和聚合物行業(yè)的所有AFM中擁有大的安裝基礎。
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