東莞皓天臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱移動(dòng)電源測(cè)試

快速溫變?cè)囼?yàn)箱是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下,運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí) ,產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵] ,以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)

時(shí)而導(dǎo)致失效,造成不必要的損失,對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果,另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過(guò)程 ,而不是-種可靠

度試驗(yàn),所以應(yīng)力篩選是一百%對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序.

滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

GB11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

GB10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

GB2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》

GB2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》

GB2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變?cè)囼?yàn)方法》

GB2424.1-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》

GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》

GB/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》

GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》;

GB2423.4－93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》

東莞皓天臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱移動(dòng)電源測(cè)試

皓天擁有一個(gè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)的科研機(jī)構(gòu),賂成熟的環(huán)試研制手段與試驗(yàn)室,集了行業(yè)內(nèi)-批優(yōu)秀的各類人才和專家,強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)著國(guó)內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向.現(xiàn)目前,公司具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、太陽(yáng)輻射試驗(yàn)箱、工業(yè)烤箱以及步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱和高風(fēng)速淋雨試驗(yàn)箱等氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備及訂制產(chǎn)品處于國(guó)內(nèi)、高水準(zhǔn)。