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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>鍍層測厚儀> XRF-2020L型測厚儀韓國微先鋒膜厚儀

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XRF-2020L型測厚儀韓國微先鋒膜厚儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海精誠興儀器儀表有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2021/8/23 9:47:59
  • 訪問次數(shù) 929

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上海市精誠儀器儀表有限公司:

自創(chuàng)立以來以優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)及良好的信譽(yù):

得到了廣大用戶的認(rèn)可,在業(yè)界迅速發(fā)展。

公司主要從事進(jìn)口實(shí)驗(yàn)室檢測設(shè)備和分析儀器的代理銷售及其相關(guān)的售后服務(wù)

產(chǎn)品涵蓋半導(dǎo)體、PCB及電子電鍍,水處理等

針對(duì)不同客戶,我司亦有以下產(chǎn)品可供選擇:

主營產(chǎn)品介紹:

 

X光鍍層測厚儀

韓國XRF-2000測厚儀

XRF-2020測厚儀

PCB孔銅測厚儀

X-RAY膜厚儀

共立水質(zhì)測試包

污水中銅鎳鉻鋅氰COD氨氮總氮總磷快速試劑盒

XRF-2020測厚儀,XRF-2000測厚儀,X射線鍍層測厚儀,X-RAY膜厚儀:共立COD,氨氮,總磷,總氮測試包

 

公司本著“科技為先,質(zhì)量為重,誠信服務(wù)”的宗旨

竭誠為您提供高品質(zhì)的產(chǎn)品和優(yōu)良的服務(wù),與您攜手共創(chuàng)美好未來。...

 

 

XRF-2020測厚儀,XRF-2000測厚儀,X射線鍍層測厚儀,X-RAY膜厚儀:共立COD,氨氮,總磷,總氮測試包

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 10萬-20萬
應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池

XRF-2020L型測厚儀韓國微先鋒膜厚儀


XRF-2020系列


微先鋒Micro Pioneer

產(chǎn)地:韓國

型號(hào):XRF-2020


功能及應(yīng)用:


檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度

可測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金,鋁上鍍鎳鍍銅鍍銀等。

合金鍍層:鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等


韓國MicroPioneer

XRF-2020測試范圍  


鍍金:0.02-6um

鍍鈀:0.03-6um

鍍鎳:0.5-30um

鍍錫:0.3-50um

鍍銀:0.1-50um

鍍鉻:0.5-30um

鍍鋅:0.5-30um

鍍鋅鎳合金:0.5-30um


儀器測試精度


表層:±5%以內(nèi)

第二層:±10%以內(nèi)

第三層:±15%以內(nèi)


型號(hào)及規(guī)格


H型測量樣品高12CM,長寬55cm

L型測量樣品高3CM,長寬55cm

檢測鍍層厚度0.03-35um


1.png


韓國XRF-2020測厚儀.jpg


XRF-2020L型測厚儀韓國微先鋒膜厚儀

規(guī)格如下圖韓國Micro Pioneer XRF-2020鍍層測厚儀


可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等,不限底材。

如單鍍層銅上鍍銀,銅上鍍鎳,銅上鍍鋅,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等

雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳,銅上鍍鎳鍍銀等,不限底材

多鍍層如:ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等,不限底材

合金鍍層如:鐵上鍍鋅鎳等。不限底材


XRF-2020

標(biāo)牌:Micro Pioneer  微先鋒

貨號(hào):XRF-2020H,XRF-2020L,XRF-PCB三款


L型:測量樣品長寬55cm,高3cm

H型:測量樣品長寬55cm,高12cm


三款機(jī)型均為全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦。

儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測量。

可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換


準(zhǔn)直器大?。?/strong>0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換



韓國XRF-2020L鍍層測厚儀




X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后

由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)

此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。

熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度

來進(jìn)行定性和定量分析







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  • 使用方法說明書、售后服務(wù)
  • 其他
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