CAMTEK 自動光學檢驗 2D檢測設(shè)備  EagleT-I

公司概述

Camtek是一個的開發(fā)商和制造商的半導體行業(yè)檢驗和計量設(shè)備。Camtek的系統(tǒng)檢查和測量晶圓半導體器件的整個生產(chǎn)過程,包括前道和封裝,和組裝的檢測。Camtek系統(tǒng)檢查晶片是的半導體市場,包括先進互連包裝、內(nèi)存、CMOS圖像傳感器、微機電系統(tǒng)和射頻,服務行業(yè)的全球IDMs OSATs和鑄造廠。

性能：Camtek檢驗和計量系統(tǒng)可以在高通量檢測有缺陷的ICs可靠,確保只有known-good-die交付給客戶的最終產(chǎn)品。先進的包裝技術(shù)的增長,已被證明是*的解決方案的產(chǎn)品,Camtek提供了各種檢驗和計量技術(shù),可以根據(jù)客戶的需求快速高效地幫助他們滿足的要求沒有缺陷的產(chǎn)品以及支持需求增長和投放市場的時間。

主要應用領(lǐng)域：CMOS傳感器陣列，LED良率監(jiān)測，MEMS特殊結(jié)構(gòu)監(jiān)測，TSV，mBUMP等。大量產(chǎn)的2D檢測適用于部分前道工藝：電鍍bump前后檢測、電測針印大小的檢測、OQC檢測、劃片后的檢測等；

產(chǎn)品優(yōu)勢：

基于CAD圖層檢測；

的圖像銳化功能；

可以檢測RDL后小到2um線寬；

兼容檢測方片、翹曲片；

可以檢測小到0.2um的表面缺陷；

多重放大倍數(shù)，提高檢測能力。

1. Eagle-I

Eagle是大量產(chǎn)的2D檢測設(shè)備，采用了CAMTEK的檢測系統(tǒng)。

大量產(chǎn)的2D檢測適用于部分前道工藝：

• 電鍍bump前后檢測；

• 電測針印大小的檢測；

• OQC檢測；

• 劃片后的檢測等；

同時又適用于器件的檢測：

• CMOS 圖像傳感器；

• MEMS特殊結(jié)構(gòu)監(jiān)測；

LED良率監(jiān)測等。