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Electrophysiology Module 細(xì)胞電阻抗特征參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)
- 公司名稱 世聯(lián)博研(北京)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) Electrophysiology Module
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2022/4/11 8:07:53
- 訪問次數(shù) 371
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細(xì)胞電生理刺激培養(yǎng)設(shè)備,細(xì)胞力、電刺激電阻抗檢測(cè)培養(yǎng)系統(tǒng),細(xì)胞低氧培養(yǎng)環(huán)境,細(xì)胞培養(yǎng)運(yùn)輸、高、低氧環(huán)境、懸浮細(xì)胞培養(yǎng)板,細(xì)胞損傷儀,自動(dòng)血凝分析儀,疫苗效力檢測(cè)分析系統(tǒng),動(dòng)物科學(xué)儀器,小動(dòng)物呼吸設(shè)備,顱腦損傷儀器
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥,綜合 |
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細(xì)胞電阻抗特征參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)
細(xì)胞電阻抗特征參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)
細(xì)胞外微電極陣列
細(xì)胞外微電極陣列使用微制造細(xì)胞外電極進(jìn)行體外神經(jīng)元記錄具有一定優(yōu)勢(shì)
我們描述了細(xì)胞外微電極陣列的制造方法、特征和使用,細(xì)胞電生理,用于檢測(cè)培養(yǎng)中的神經(jīng)元的動(dòng)作電位。
64個(gè)電極陣列中的100微米2的鍍金微電極可以檢測(cè)到在動(dòng)作電位期間流動(dòng)的外部電流,其S:N比高達(dá)500:1,給出的蕞大記錄信號(hào)為幾毫伏。
如果細(xì)胞在電極上得到良好的密封,這些電極的性能就會(huì)得到提高,如果電極和細(xì)胞位于基質(zhì)的深槽中,其性能就會(huì)進(jìn)一步提高。
這些電極可用于記錄和刺激培養(yǎng)的神經(jīng)元的活動(dòng),以及從一個(gè)細(xì)胞的多個(gè)部位進(jìn)行記錄。
細(xì)胞外微電極陣列描述了使用這種電極獲得無脊椎動(dòng)物神經(jīng)元的記錄的情況。展示了這些電極的特殊優(yōu)勢(shì),它們的長期穩(wěn)定性、非侵入性、高包裝密度和在刺激中的效用。
可牽張多通道微電極特性:
.柔性, 可拉伸,細(xì)胞電生理牽張拉伸系統(tǒng), 軟(Flexible, Stretchable and Soft)
.記錄和剌激電生理活動(dòng)(Recording and Stimulation of Electrophysiological Activity)
.機(jī)城力方面強(qiáng)大:拉伸, 彎曲, 扭曲(Mechanically robust: stretch, bend, twist)
微裂紋金膜提供了理想的性能組合:
.低電阻(low electrical impedance)
.彈性可拉伸(elastically stretchable)
.低彈性模量(low elastic modulus)
.低疲勞(low fatigue)
我們的可拉伸 MEA 與 MEASSuRE 系統(tǒng)相結(jié)合。它們?cè)鰪?qiáng)了研究能力并提供了的多功能性,因?yàn)樗鼈優(yōu)檠芯咳藛T提供了獨(dú)立操縱化學(xué)、電氣和機(jī)械因素以更緊密地人體復(fù)雜性的方法。
細(xì)胞機(jī)械拉伸損傷培養(yǎng)設(shè)備
據(jù)估計(jì),每年約有150萬美國人遭受創(chuàng)傷性腦損傷(TBI),其中約80%被認(rèn)為是輕度傷害。
根據(jù)定義,輕度TBI引起的癥狀持續(xù)不到半小時(shí),顯然不需要治1療就能解決,所以對(duì)輕度TBI的研究往往被忽視,導(dǎo)致這一廣泛存在的問題出現(xiàn)了重大的知識(shí)空白。
在這項(xiàng)工作中,細(xì)胞電生理力學(xué)復(fù)合模型系統(tǒng),我們研究了新生兒/青少年海馬在實(shí)驗(yàn)性輕度創(chuàng)傷后的功能(電生理)改變。我們以前使用的細(xì)胞機(jī)械拉伸損傷培養(yǎng)設(shè)備的工作報(bào)告了在體外損傷>10%的雙軸變形后顯著的細(xì)胞死1亡。
在這里,我們報(bào)告說,細(xì)胞電生理力學(xué)模型系統(tǒng),雙軸變形低至5%就會(huì)影響海馬切片文化體外輕度損傷后弟一周的神經(jīng)元功能。
這些結(jié)果表明,即使非常低的機(jī)械損傷事件也可能導(dǎo)致可量化的神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)功能障礙。此外,我們使用細(xì)胞機(jī)械拉伸損傷培養(yǎng)設(shè)備得出的結(jié)果強(qiáng)調(diào),機(jī)械變形的安全限度或耐受性標(biāo)準(zhǔn)可能是特定的結(jié)果測(cè)量,而神經(jīng)元功能是一個(gè)比細(xì)胞死1亡更敏感的損傷測(cè)量。
此外,發(fā)現(xiàn)損傷時(shí)組織的年齡是影響創(chuàng)傷后電生理功能缺陷的一個(gè)重要因素,表明發(fā)育狀況和對(duì)輕度損傷的脆弱性之間存在關(guān)系。我們的研究結(jié)果表明,輕度小兒創(chuàng)傷性腦損傷可能導(dǎo)致比目前所認(rèn)識(shí)的更嚴(yán)重的功能障礙。