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熱流儀高低溫氣流循環(huán)沖擊系統ATE測試應用

提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 150℃ 溫度測試解決方案. 高低溫沖擊氣流儀 TS560 GPIB通訊（IEE488）兼容華峰測控, 操作簡單.

熱流儀高低溫氣流循環(huán)沖擊系統ATE測試應用

產品的特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗，如：

芯片、微電子器件、集成電路（SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等）

閃存Flash、UFS、eMMC、PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件

光通訊（如：收發(fā)器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）

其它電子行業(yè)、航空航天新材料、實驗室研究

模擬IC測試系統—STS8200

產品特點：

- 主機柜由兩個插件箱組成，每插件箱支持13個插槽，總共最多支持26個插槽

- 針對各類模擬，電源管理，信號鏈產品測試

- 全浮動，多通道的V/I源，每路16位的驅動與測量分辨率

- 具備高壓或大功率的選項，單通道1KV，浮動高壓源可疊加到2KV

- 具備交流源表及任意波形發(fā)生器及數字化儀，支持音頻測試

- 多通道的高精度時間測量單元

- 最多32路的數字通道，并支持多種數字通訊協議

- 圖形化調試工具

- 支持并行測試模式，支持乒乓模式及TWIN模式；支持分站并發(fā)測試模式

- 增加測試頭，可擴展為混合信號測試系統