德國FISCHER鍍層厚度測量儀X-RAY XULM240

優(yōu)點(diǎn)
德國設(shè)計(jì)，技術(shù)先進(jìn)
一個(gè)軟件實(shí)現(xiàn)鍍層厚度測量和材料分析兩個(gè)功能
擴(kuò)展統(tǒng)計(jì)功能。例如，測量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示
圖像識(shí)別：WinFTM可以自行查找預(yù)設(shè)的測量位置
基于基本參數(shù)分析的無標(biāo)準(zhǔn)片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實(shí)現(xiàn)精確的測量結(jié)果
距離控制測量（DCM）：允許通過快速更改測量距離，在不需要設(shè)置和校準(zhǔn)另一個(gè)測量任務(wù)的情況下，測量不同高度的測試部件。軟件能夠識(shí)別測量的距離，并自動(dòng)校正評(píng)估。
測量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測量質(zhì)量。錯(cuò)誤地選擇了錯(cuò)誤的測量任務(wù)或測量了錯(cuò)誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會(huì)提醒您
任務(wù)程式：只需單擊一下，幾乎可以對(duì)WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進(jìn)行編程并執(zhí)行。例如，一項(xiàng)任務(wù)可以自動(dòng)測量多個(gè)合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺(tái)移動(dòng)到樣品位置，加載每個(gè)合金特定的測量條件，*后根據(jù)您的需要生成測試報(bào)告

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 是一款、設(shè)計(jì)緊湊、應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。常用于無損測量細(xì)小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)及生產(chǎn)過程控制中測量使用。

德國FISCHER鍍層厚度測量儀X-RAY XULM240

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
·對(duì)十分微小零部件、接插件和線材進(jìn)行測量
·在印制電路板上進(jìn)行手動(dòng)測量
·針對(duì)珠寶和手表業(yè)中需求的測量

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。正如所有的FISCHERSCOPE XRAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

依靠 FISCHER 的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

XULM 240 型儀器配備有微聚焦X射線管以及可電動(dòng)切換的視準(zhǔn)器和基本濾片，因此更適合對(duì)微小工件進(jìn)行測量。