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HAST測試機Burn-in Chamber老化測試

HAST加速老化試驗箱Burn-in Chamber廣泛應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產品的耐壓力和氣密性進行測試。

HAST測試Burn-in Chamber（Highly Accelerated Stress Test，高加速應力測試）是一種用于評估芯片在不同環(huán)境條件下性能和可靠性的測試方法。

一、測試目的

HAST測試Burn-in Chamber主要用于模擬RF射頻芯片在實際應用中可能遇到的高溫、高濕等惡劣環(huán)境，以加速芯片的老化過程，從而更早地暴露出潛在的問題。通過測試，可以評估芯片在高溫高濕環(huán)境下的穩(wěn)定性、檢測可能由高溫高濕引起的問題，并驗證芯片的可靠性。

二、測試原理

HAST測試Burn-in Chamber通過在高溫高濕環(huán)境下對RF射頻芯片施加應力，模擬芯片在實際應用中可能面臨的惡劣條件。高溫高濕環(huán)境會引發(fā)一系列物理和化學反應，如熱膨脹、熱應力和腐蝕等，這些因素對芯片的性能和可靠性產生不利影響。在HAST測試Burn-in Chamber中，芯片被暴露在高溫高濕的環(huán)境中，通過加速老化過程，從而更早地暴露出潛在的問題。

HAST測試機Burn-in Chamber老化測試

HAST Burn-in Chamber 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備

其目的是提高環(huán)境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產品或系統的壽命試驗時間。

Burn-in Chamber 用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。

Burn-in Chamber 產品特點

1.HAST高壓加速老化試驗機Burn-in Chamber采用較新優(yōu)化設計,美觀大方，做工精細

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)

3.大容量水箱,試驗時間長,全自動補水，試驗不中斷

4.與試樣數量相吻合的試樣信號施加端了

5.采用觸摸屏，具有USB曲線數據下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內達到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)

7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長

8.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

9.可根據客戶不同需求定制專用HAST試驗設備Burn-in Chamber（如: HAST內箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）

Burn-in Chamber滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規(guī)范要求

3種控制模式包含：不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。

高壓加速老化試驗箱采用優(yōu)化設計，美觀大方、做工精細，對應 IEC60068-2-66 條件

具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。