化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>質(zhì)譜>其它質(zhì)譜儀>PHI ADEPT010 動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀D-SIMS|束蘊(yùn)儀器
PHI ADEPT010 動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀D-SIMS|束蘊(yùn)儀器
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) PHI ADEPT010
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/6/27 8:48:13
- 訪問(wèn)次數(shù) 1643
產(chǎn)品標(biāo)簽
聯(lián)系方式:朱17621138977 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀(Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry,簡(jiǎn)稱D-SIMS)是一種用于固體材料成分分析的高靈敏度表面分析技術(shù)。
ADEPT-1010 專為淺層半導(dǎo)體注入和絕緣薄膜的自動(dòng)分析而設(shè)計(jì),是大 多數(shù)半導(dǎo)體開發(fā)和支持實(shí)驗(yàn)室的常用工具。通過(guò)優(yōu)化的二次離子收集光學(xué)系統(tǒng) 和超高真空設(shè)計(jì),提供了薄膜結(jié)構(gòu)檢測(cè)中的摻雜組分和常見雜質(zhì)所需的靈敏度。
工作原理:
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀通過(guò)使用聚焦的高能量一次離子束(如O??、Cs?、Ar?等)轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或分子被濺射出來(lái)。在這個(gè)過(guò)程中,部分濺射出的粒子會(huì)帶電,形成二次離子。這些二次離子被收集并傳輸?shù)劫|(zhì)譜儀中進(jìn)行分析,通過(guò)質(zhì)譜分析可以確定樣品的化學(xué)組成和元素分布。
相關(guān)分類
相關(guān)技術(shù)文章
- 如何使用島津等離子體質(zhì)譜儀進(jìn)行
- 原位電化學(xué)質(zhì)譜儀檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)
- 解析島津三重四級(jí)桿液相色譜質(zhì)譜
- 原位微分電化學(xué)質(zhì)譜儀的養(yǎng)護(hù)方式
- 單顆粒質(zhì)譜儀:復(fù)合進(jìn)樣技術(shù)、高
- 四極桿質(zhì)譜儀的故障排除與維護(hù)指
- 實(shí)驗(yàn)室質(zhì)譜儀的養(yǎng)護(hù)方式與技術(shù)規(guī)
- 便攜高能,一 “器” 多用:新一
- 有哪些方法可以驗(yàn)證四極桿質(zhì)譜儀
- 封閉煤場(chǎng)自動(dòng)激光盤點(diǎn)系統(tǒng)可取代