光存儲器測試儀
- 公司名稱 東譜科技(廣州)有限責任公司
- 品牌 東譜
- 型號
- 產(chǎn)地 中國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/6/30 18:05:11
- 訪問次數(shù) 45
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:超分辨成像,超小空間掃描,三維智能成像測試,全自動軟件測試系統(tǒng)
產(chǎn)品特點
1. 雙光束技術(shù)架構(gòu)與應(yīng)用場景
支持 多波長并行激發(fā) / 探測 配置(如 405nm+633nm 雙光束),通過 光纖分束 + 同步時序控制 實現(xiàn)
2. 超分辨成像:突破衍射極限的 < 160 nm 能力
采用 結(jié)構(gòu)光照明顯微鏡(SIM)+ 算法重構(gòu) 技術(shù),將橫向分辨率推至 <160 nm(超越傳統(tǒng)共焦~250 nm 極限)
3. 6 nm 超小空間掃描分辨率:納米級定位的技術(shù)底氣
依托 壓電陶瓷掃描平臺 + 激光干涉反饋,實現(xiàn) 6 nm 級掃描步長與定位精度
4. 三維智能成像:從 “切片” 到 “全息” 的跨越
集成 Z 軸層析(步長 < 50 nm)+AI 驅(qū)動重構(gòu),實現(xiàn)全自動三維表征
5. 全自動軟件測試系統(tǒng):流程化與智能化的融合
軟件覆蓋 “控制 - 采集 - 分析 - 報告” 全鏈條自動化