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UV762-雙光束紫外可見分光光度計
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
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- 產(chǎn) 地：
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- 2025年3月14日
- 2025年9月14日
- 上海上海市
- 上海
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【產(chǎn)品簡介】
● 波長Z大允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 透射比Z大允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復性：0.2%（T）
【詳細說明】
UV762雙光束紫外可見分光光度計商品簡述：
該產(chǎn)品是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計，采用了全新的光學系統(tǒng)設計、微機控制和處理數(shù)據(jù)、大屏幕LCD中文窗口顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數(shù)據(jù)。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精確度高；光譜數(shù)據(jù)處理功能強；采用中文人機對話、操作方便，產(chǎn)品外形美觀大方。該產(chǎn)品廣泛用于生物化學、環(huán)境監(jiān)測、商品檢驗、石油化工、黑色和有色冶金等領域，使質(zhì)量控制、技術鑒定和科學研究所必須的基本設備。
UV762雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
● 全新的光學系統(tǒng)設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
● *的氘燈和鎢燈安裝、光源自動切換及自動尋找*位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
● 優(yōu)良的軟件設計和編制，使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜、多波長（1～3λ）測定、動力學測定、1～3次曲線擬合、1～4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
● 采用大屏幕中文窗口顯示，具有良好的人機對話界面。
UV762雙光束紫外可見分光光度計技術指標：
● 波長范圍：200nm～1100nm
● 波長zui大允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復性：0.2%（T）
● 光譜帶寬：2nm
● 基線平直度：±0.004A（200nm～1000nm）
● 漂移：≤0.004A/h（500nm處，預熱2小時）
● 雜散光：≤0.15%（T）（在220nm處, 以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定）
其它：
● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz