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貨物所在地：上海上海市
產(chǎn)地： info@felles.cn
更新時(shí)間：2025-02-10 21:00:05
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在線詢(xún)價(jià)收藏產(chǎn)品( 聯(lián)系我們，請(qǐng)說(shuō)明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息，謝謝?。?/p>
這款高精度原子力顯微鏡Atomic Force Microscope具有SPM顯微鏡模式，是進(jìn)口原子力顯微鏡品牌中原子力顯微鏡價(jià)格zui低的AFM顯微鏡產(chǎn)品。
原子力顯微鏡特色
堅(jiān)固可靠操作，科研級(jí)原子力顯微鏡和掃描探針顯微鏡
單原子步進(jìn)分辨率為100x100um掃描
超高精度重復(fù)定位，掃描范圍內(nèi)沒(méi)有邊界畸變
高靈敏度較低力測(cè)量
非常適合軟材料測(cè)量
模塊化結(jié)構(gòu)提供多種掃描探針模式
AFM工作模式
支持SPM顯微鏡掃描技術(shù)
接觸式AFM模式
非接觸式AFM模式
半接觸式模式
相成像
力monitor
橫向力顯微鏡
力曲線分析
電子特性
磁力顯微鏡
STM顯微鏡
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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