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貨物所在地：上海上海市
產(chǎn)地： www.f-lab.cn/pc
更新時(shí)間：2025-03-22 16:17:09
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表面絕緣電阻測(cè)試儀SIR是下一代PCB測(cè)量表面絕緣電阻變化的儀器。新的表面絕緣電阻測(cè)試儀AutoSIR2比現(xiàn)有的SIR測(cè)試替代方案有了顯著的改進(jìn)，其屏蔽精密電子設(shè)備允許良好的精度電阻測(cè)量值達(dá)到1014Ω。
表面絕緣電阻測(cè)試儀AutoSIR2+機(jī)箱可以容納1到16個(gè)測(cè)量卡，并可以在幾分鐘到幾天的可選間隔內(nèi)監(jiān)控多達(dá)256 x 2點(diǎn)測(cè)試模式或78 x 5點(diǎn)測(cè)試模式，或32 x 9點(diǎn)測(cè)試模式。每個(gè)通道都有電流限制（1MΩ），這會(huì)促進(jìn)枝晶的生長，以便進(jìn)行故障分析。頻繁監(jiān)測(cè)功能提供了電路組件上發(fā)生的電化學(xué)反應(yīng)的全貌，并提供了早期趨勢(shì)分析，使測(cè)試得以縮減，從而節(jié)省了大量測(cè)試時(shí)間和資金。
表面絕緣電阻測(cè)試儀特點(diǎn)
所有256個(gè)通道的測(cè)量可在30秒內(nèi)完成
施加電壓：+1V至100V
測(cè)量范圍：106Ω至1014Ω
測(cè)量方法：在所有選定通道上連續(xù)測(cè)量
測(cè)量測(cè)試間隔：至少1分鐘*可選
能夠按照所有現(xiàn)有測(cè)試規(guī)范（IPC–IEC–JNC）和其他用戶規(guī)范進(jìn)行測(cè)試
經(jīng)得起未來考驗(yàn)的設(shè)計(jì)
AutoSIR2+提供64、128或256通道配置
在連接時(shí)，系統(tǒng)運(yùn)行自檢
適用于Windows 7、8和10的適應(yīng)性強(qiáng)且靈活的軟件
表面絕緣電阻測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
| 通道數(shù) | 64 or 128 or 256 |
| 絕緣電阻測(cè)量范圍 | 106 to 1014 Ω |
| 內(nèi)部偏置電壓 | 0V; 3.3V; 5V; 10V; 12.5V; 15V; ±50V, ±100V |
| 外部偏置電壓 | 1V to 100V free selection external 1V to 1250V |
| 測(cè)量方法 | Continuous on all selected channels |
| 測(cè)量間隔 | Fully selectable from minimum of 1 minute |
| 測(cè)量速度 | Optimised at<100ms per channel for data management |
| 最大測(cè)量時(shí)間 | Unlimited |
| 電流測(cè)試 | Fully shielded |
| 警報(bào) | Low resistance |
| 數(shù)據(jù)采集 | Sampling Time, Elapsed Time, Resistance, Current, Applied Voltage, Temperature, Humidity |
| 適合操作系統(tǒng) | Windows® 7 onwards |
| 供電要求 | 110V/230V Switchable mains single phase |
| 尺寸重量 | 17 kgs (37.5 Ibs), 52 x 34 x 17cm |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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