儀器針對(duì)IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 采用*的同步帶傳動(dòng)，非接觸式光電計(jì)數(shù)，15工位同時(shí)測(cè)量大大提高的儀器的精度和使用壽命。
HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)
本儀器針對(duì)IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 采用*的同步帶傳動(dòng)，非接觸式光電計(jì)數(shù)，15工位同時(shí)測(cè)量大大提高的儀器的精度和使用壽命。
主要技術(shù)參數(shù)
外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高（670×380×220mm）
儀器重量：70kg
電壓：AC220V±5%
功率：35W
測(cè)試速度：彎曲30r/min
測(cè)試周期：1~9999次
彎曲度；長(zhǎng)邊20 mm，短邊10 mm
扭曲度：15°±1°雙向
產(chǎn)品用途：用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
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