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WIVS-II型 垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀
  • WIVS-II型 垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀
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貨物所在地：上海上海市

更新時間：2025-05-10 21:00:08

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( 聯(lián)系我們，請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息，謝謝?。?/p>

 儀器的原理，主要構成與特點與WIVS-I型 基本相同，其區(qū)別如下： 
1 、干涉顯微鏡為自主設計，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等顯微鏡組，用戶可根據(jù)測量視場范圍及橫向分辨率的要求挑選。而WIVS—I型由于是6JA干涉顯微鏡改造而來，其物鏡是固定的，為40x。因此WIVS-II型干涉顯微鏡的測量視場擴大了，顯微鏡的分辨率，范圍的選擇擴 大了。 
2 、WIVS-II型 垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀垂直掃描時的驅(qū)動對象為： 
驅(qū)動鏡頭進行垂直方向的掃描。

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