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實(shí)驗簡介：

光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價工程上主要采用分辨率法和光學(xué)傳遞函數(shù)（MTF）測量法。分辨率法測量多用于大像差系統(tǒng)，實(shí)驗簡便直觀；MTF測量法適用于一些高分辨率的光學(xué)系統(tǒng)。以上兩種測量方法已廣泛應(yīng)用于工程實(shí)實(shí)踐中。本實(shí)驗參照《工程光學(xué)》教材中“光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)評價”相關(guān)知識點(diǎn)設(shè)計開發(fā)而成。

實(shí)驗內(nèi)容：

1、分辨率板直讀法測量光學(xué)系統(tǒng)分辨率實(shí)驗；

2、利用變頻朗奇光柵測量光學(xué)系統(tǒng)MTF值實(shí)驗；

3、基于線擴(kuò)散函數(shù)測量光學(xué)系統(tǒng)MTF值實(shí)驗。

主要設(shè)備參數(shù)：

1.平行光管組件：

光源：白光/三色LED，P>1W，亮度連續(xù)可調(diào)；

平行光管：D/F=1:8，L=550mm，f=400mm；

MTF目標(biāo)物：線寬度10μm，精度1μm。

2. 測試組件：

變頻朗奇光柵；美軍標(biāo)USAF1951分辨率板，分辨力1～228C/mm,精度1μm。

3. 機(jī)械組件：

精密光學(xué)導(dǎo)軌： L×W=1200mm×90mm，配套滑塊、一維移動滑塊、調(diào)節(jié)支座、支桿；高精度調(diào)節(jié)鏡架，穩(wěn)定性 <2′。

4. 光學(xué)組件：

光學(xué)透鏡：Φ40mm，光潔度III級，f=150～300mm 。

5. 探測器組件：

數(shù)字CMOS相機(jī)：130萬像素，像素大小5.2μm×5.2μm，usb2.0,A/D：10bit 。

6. 講義及快速安裝指南。

7. 軟件組件：

相機(jī)標(biāo)定模塊，光學(xué)系統(tǒng)分辨測量模塊，MTF計算模塊。

選配設(shè)備參數(shù)：

1、儀器設(shè)備防塵罩：外形尺寸：1400mm×360mm×300mm；觀察窗材料：亞克力透明擋板。

2、計算機(jī)（基本配置）。