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有人問，是不是選用內(nèi)校天平比使用外校天平稱量結(jié)果更準(zhǔn)確些，其實(shí)這個準(zhǔn)確性跟內(nèi)校還是外校關(guān)聯(lián)不大。
電子分析天平在安裝、移動位置、實(shí)驗室溫度明顯變化等，進(jìn)行校準(zhǔn)，以保證電子分析天平適應(yīng)本地的重力加速度和環(huán)境，校準(zhǔn)電子天平就會用到標(biāo)準(zhǔn)砝碼。
但是電子分析天平的準(zhǔn)確性與內(nèi)校和外校是無關(guān)的，主要看砝碼的等級和電子天平傳感器質(zhì)量，一般新出廠的天平所帶的外帶砝碼和內(nèi)置砝碼等級是相同的，所以沒有區(qū)別，但隨著使用時間的推移,外帶砝碼的損耗一般比內(nèi)置砝碼要大：會受到灰塵、酸堿腐蝕等等影響，一個手指印就會有幾十微克重，如果保管不當(dāng)還有丟失的情況存在。所以每年的計量檢驗不合格的話，就需要更換砝碼。
內(nèi)置砝碼的天平一般不會出現(xiàn)上述情況，并可以通過修改天平的校正程序參數(shù)來修正偏差、雖然內(nèi)校天平比外校價格貴20%左右，但其使用方便,所以在使用中有明顯優(yōu)勢。
如此看來電子天平的準(zhǔn)確性跟校準(zhǔn)有關(guān)，跟砝碼有關(guān)！
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