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功能薄膜特性測試儀 型號:UKSY-5
功能薄膜特性測試儀 型號:UKSY-5

地:國產(chǎn)

貨物所在地:北京北京市

更新時間:2025/8/15 9:19:10

訪問次數(shù):107

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化:
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網(wǎng)址:
www.centrwin.com

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供應(yīng)簡介
本測試儀是多用途綜合測量裝置,開展半導體材料的電阻性能的測試。由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導率測量儀組成。四探針測試儀由主機、測試架等部分組成,測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示


詳細介紹

功能薄膜特性測試儀 型號:UKSY-5 貨號:ZH9392
產(chǎn)品簡介
本測試儀是多用途綜合測量裝置,開展半導體材料的電阻性能的測試。壓力表取針器由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導率測量儀組成。四探針測試儀由主機、測試架等部分組成,測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由高靈敏度直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定度飛灰采樣器
恒流源組成。非晶硅薄膜電導率測量儀由樣品室、溫控系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、高阻測量系統(tǒng)等部分組成。
測量范圍:
電阻范圍:1×106~1×1017Ω;
電 阻 率:0.001~200Ωcm
電 導 率:0.005~1000s/cm
可測晶片直徑: 200mmX200mm
探    針:碳化鎢或高速鋼
探針間距:1±0.01mm
針間緣電阻:≥1000MΩ
機械游移率:≤0.3%
本底真空度:≤10Pa
氣壓可控范圍:10~400Pa
襯底加熱 溫度:室溫~200℃
www.ghitest.com 


 

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