脈沖激光外延制備鍍膜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
脈沖激光外延制備鍍膜系統(tǒng)脈沖激光外延制備系統(tǒng)憑借著優(yōu)異的性能, PVD公司生產(chǎn)的脈沖激光沉積分子束外延系統(tǒng)在國(guó)內(nèi)外擁有較多用戶，為眾多老師開(kāi)啟薄膜外延制備的新篇...
脈沖激光沉積鍍膜設(shè)備 參考價(jià)：面議
脈沖激光沉積鍍膜設(shè)備激光在真空腔內(nèi)照射到成膜靶上，靶被照射后吸收高密度能量而形成的plume狀等離子體狀態(tài)，然后被堆積到設(shè)在對(duì)面的基板上而成膜。PLD方法可以獲...
狹縫擠出式涂布鍍膜機(jī) 參考價(jià)：面議
狹縫擠出式涂布鍍膜機(jī)粘度范圍：1-20000cps，應(yīng)用襯底：玻璃， PET聚酯， 紙張，幅寬：90mm, 120mm, 300mm。
低溫等離子體源 參考價(jià)：面議
低溫等離子體源通過(guò)外部開(kāi)關(guān)信號(hào)發(fā)射，直接放電，低輸入電壓、高輸出電壓，基于壓電變壓器直接放電，同時(shí)在元件的輸出端直接產(chǎn)生冷等離子，等離子通過(guò)電離空氣或氣體來(lái)形成...
快速動(dòng)力學(xué)停流裝置-分子生物學(xué) 參考價(jià)：面議
快速動(dòng)力學(xué)停流裝置-分子生物學(xué)配合進(jìn)行快速動(dòng)力學(xué)瞬間實(shí)時(shí)記錄，或離線分析，為廣大的快速動(dòng)力學(xué)研究學(xué)者提供了強(qiáng)有力的工具。在消耗較少的樣本和較少的時(shí)間的同時(shí)，為您...
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征表面光電壓譜進(jìn)行專(zhuān)業(yè)研究時(shí)，SPV010或者SPV020表面光電壓譜系統(tǒng)作為開(kāi)爾文探針系統(tǒng)的升級(jí)配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英國(guó)KP開(kāi)爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
英國(guó)KP開(kāi)爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征英國(guó)KP開(kāi)爾文探針掃描是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置，用于測(cè)量導(dǎo)體材料的功函數(shù)（Work Function）或半導(dǎo)體、絕緣表面的...
球磨測(cè)厚儀-測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
球磨測(cè)厚儀-測(cè)試設(shè)備控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時(shí)間，球型，X，Y直徑，自帶LED光源，目鏡小刻度為0.02mm，自動(dòng)厚度校準(zhǔn)，工作時(shí)間范圍：1-30m...
涂層附著力檢測(cè)儀-測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
涂層附著力檢測(cè)儀-測(cè)試設(shè)備1.快速簡(jiǎn)易：壓痕并觀察壓痕效果2.高性價(jià)比：寶石探針消耗低（劃痕儀的10倍使用壽命）
摩擦學(xué)測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
摩擦學(xué)測(cè)試設(shè)備目的是滿足摩擦學(xué)的需要。為了增加機(jī)械部件的性能和可靠性，公司和大學(xué)研究越來(lái)越多的涂層和基底材料的摩擦參數(shù)和磨耗阻力。針對(duì)客戶的需求，我們開(kāi)發(fā)了多種...
輪廓儀-測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
輪廓儀-測(cè)試設(shè)備為了選擇佳涂層或基底材料，客戶有必要不僅僅檢測(cè)摩擦系數(shù)，也需要檢測(cè)磨損速率。磨損速率測(cè)量可以提供可靠的結(jié)果，這可以允許客戶來(lái)決定手否樣品能夠達(dá)到...
界面力學(xué)分析儀-材料表征 參考價(jià)：面議
界面力學(xué)分析儀-材料表征界面力學(xué)分析儀可以用來(lái)直接測(cè)量表面（諸如：無(wú)機(jī)物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態(tài)力和動(dòng)態(tài)力，并在分子級(jí)領(lǐng)域內(nèi)研究界面...
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征 參考價(jià)：面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)?？梢詮V泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-...
全自動(dòng)貼片機(jī)-材料設(shè)備 參考價(jià)：面議
全自動(dòng)貼片機(jī)-材料設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大是持續(xù)可調(diào)的。這通過(guò)可調(diào)放大倍率達(dá)到高精度的放置器件。該款是一款堅(jiān)固并且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)易，兼容性高的產(chǎn)品。
劃片機(jī)-材料設(shè)備 參考價(jià)：面議
劃片機(jī)-材料設(shè)備沿著中心線升高以便分離。薄膜層幫助元件阻攔污染或重壓。全部參數(shù)都由控制鍵盤(pán)設(shè)定。這是一款穩(wěn)定，抗振動(dòng)，和易操作的設(shè)備。
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征 參考價(jià)：面議
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征1、大氣環(huán)境下使用2、功能：光電子發(fā)射光譜+開(kāi)爾文探針3、測(cè)試能級(jí)：費(fèi)米能級(jí)，導(dǎo)帶底能量，價(jià)帶頂能量，HOMO-LUMO，禁帶寬...
薄膜電阻及厚度測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
薄膜電阻及厚度測(cè)試設(shè)備可按照需求配置單個(gè)或多個(gè)針對(duì)不同樣品的高敏感探頭進(jìn)行測(cè)量，并通過(guò)顯示模塊輸出。檢測(cè)終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(dǎo)（...
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征 參考價(jià)：面議
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統(tǒng)電子槍?zhuān)盒吞?hào) ：帶可調(diào)焦距和束斑直徑的雙靜電透鏡束流電壓：0-3KV束流電流：大50u...
表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征 參考價(jià)：面議
表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征表面光電壓譜系統(tǒng)150瓦直流可控光強(qiáng)的石英鹵素?zé)艨梢赃_(dá)到開(kāi)路電位來(lái)評(píng)估卷對(duì)卷硅太陽(yáng)能電池的質(zhì)量，全數(shù)字化控制所有參數(shù)，包括光照強(qiáng)度和波...
KP Technology掃描開(kāi)爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
KP Technology掃描開(kāi)爾文探針-材料表征非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子...
超高真空開(kāi)爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
超高真空開(kāi)爾文探針-材料表征開(kāi)爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，
氣氛可控開(kāi)爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
氣氛可控開(kāi)爾文探針-材料表征氣氛可控開(kāi)爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開(kāi)爾文探針是控制氣氛檢測(cè)樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至10...
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測(cè)半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級(jí)、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段。根據(jù)半導(dǎo)體P-N 結(jié)、金－半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容（△C～t）...
單點(diǎn)開(kāi)爾文探針-材料表征 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)開(kāi)爾文探針-材料表征開(kāi)爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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