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[供應]A1、C、D、M1-磁粉探傷靈敏度試片
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  • A1、C、D、M1-磁粉探傷靈敏度試片
貨物所在地:
山東濟寧市
產地:
山東省濟寧市任城開發(fā)區(qū)內
更新時間:
2023-04-12 21:00:08
有效期:
2023年4月12日 -- 2023年10月12日
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產品簡介

4730標準磁粉探傷靈敏度試片:A1型靈敏度試片,C型靈敏度試片,D型靈敏度試片,M1型靈敏度試片。

詳細介紹

 

 A1、C、D、M1磁粉探傷靈敏度試片

A1型靈敏度試片

A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質的工件,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。

特點如下:

    試片用于磁粉顯示,圖像直觀,使用簡便,對各類零件所有方向的磁場,尤其檢查形狀復雜的零件時,表現(xiàn)其*的優(yōu)點。

性能規(guī)格:試片=1(15/100ц)適用于高靈敏度探傷,規(guī)格為(11-12)D。2(30/100ц)適用于中靈敏度探傷,為(8-9)D。3(60/100ц)適用于低靈敏度探傷,為(5-6)D。括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為ц(微米),D為工件直徑。

使用方法:

    選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上(膠帶紙貼于試片兩邊緣,不要影響試片背面的刻槽部位)。

    進行外加懸場法,對工件進行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,即是磁化電流)。

上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。

C型靈敏度試片

C型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學會提出,以后為多個國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量是磁粉探傷工作者*的調試工具。

 4730標準磁粉探傷靈敏度試片:A1型靈敏度試片,C型靈敏度試片,D型靈敏度試片,M1型靈敏度試片。

 

 
試片用于磁粉顯示,圖象直觀,使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,尤其檢查部位狹小、形狀復雜的零件時,表現(xiàn)其*的優(yōu)點。
性能規(guī)格:
我公司生產的C型標準試片,是一種消耗的調整磁粉 探傷靈敏度試片,它分為C1型和C2型,它可以在任何幾 何形狀復雜的工件上探傷,尤其在焊縫的坡口面上及狹小 部分,更能顯示它的優(yōu)點。 C型標準試片相當于A型試片中2#試片的靈敏度等同,它的磁化規(guī)范相當于8-10D,并可用作鑒定探傷設備、磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷過程中,可以避免誤判或漏檢。C型標準靈敏度試片,是磁粉探傷工作者*的調試工具。
本套試片包括:C18/50μ C215/50μ 共六片,分兩組不同規(guī)格的試片組成

使用方法:
1、使用C1型時,沿者分割線,剪開為5x10mm的小片,使用適當的雙面膠帶,或者膠粘劑貼于試樣表面(雙面膠帶厚度要小于100μm)。
2、使用連續(xù)法,顯示磁痕,即是工件所需靈敏度。
3、使用C2型試片時,剪開C字為正,也可不剪開,以缺口為磁場方向,顯示痕跡,即是工件所需靈敏度。上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。

注意事項:
1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。

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