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干燥箱與高溫試驗(yàn)箱的區(qū)別F．JTM、JB、GB三標(biāo)準(zhǔn)的差異說明
閱讀：1950 發(fā)布時間：2011-9-16
干燥箱與高溫試驗(yàn)箱的區(qū)別F．JTM、JB、GB三標(biāo)準(zhǔn)的差異說明
| 干燥箱與高溫試驗(yàn)箱的區(qū)別JTM、JB、GB三標(biāo)準(zhǔn)的差異說明 | |||||
| 項(xiàng)目 | JTM干燥箱 | JB干燥箱 | GB高溫試驗(yàn)箱 | ||
| 均勻性 | 100℃ | ≤±2℃ | ≤zui高工作溫度的±2.5% | ≤2℃ | |
| 200℃ | ≤±4℃ | ||||
| 300℃ | ≤±6℃ | ||||
| 波動度 | ≤±1℃ | ≤±1℃ | ≤±0.5℃ | ||
| 偏差 | | | 200℃以內(nèi)允許偏差為±2℃,溫度高于200℃時,允許偏差為±3℃ | ||
| 布點(diǎn)方法 | 共布9點(diǎn),除中心點(diǎn)位于工作室?guī)缀沃行耐?其余測試點(diǎn)與工作室壁的距離為各自邊長的1/6 | Ⅰ﹑Ⅱ型 烘箱 | 共布9點(diǎn),加熱器一側(cè)的試點(diǎn)距箱壁的距離為100mm,未裝有加熱器的各側(cè)的試點(diǎn)距箱壁60mm | 共布9點(diǎn),試驗(yàn)箱分上、中、下三層.上層與工作室頂面的距離為工作室高度的1/10,中層通過工作室?guī)缀沃行?下層在zui低層樣品架上方10mm.除中心點(diǎn)位于工作室?guī)缀沃行耐?其余測試點(diǎn)與工作室壁的距離為各自邊長的1/10 | |
| Ⅲ型烘箱 | 共布9點(diǎn),加熱器一側(cè)的試點(diǎn)距箱壁的距離為110mm,未裝有加熱器的各側(cè)的試點(diǎn)距箱壁70mm | ||||
| 數(shù)據(jù)整理 | 均勻度 | 當(dāng)測試溫度穩(wěn)定2H后,每隔1min鐘以上記錄所有測試點(diǎn)一次,在30min內(nèi)共測10次 | zui高工作溫度恒定2H后,連續(xù)反復(fù)記錄各試點(diǎn)與中心點(diǎn)的溫度差,每點(diǎn)記錄4次.記錄全部讀數(shù)的時間不超過20min | 在工作空間中心測試點(diǎn)的溫度*次達(dá)到測試溫度并穩(wěn)定2H后,每2min記錄所有測試點(diǎn)一次,在30min內(nèi)共測15次,隔30min再測一次,以后每隔1H測一次,共測24H | |
| 波動度 | 恒定2H后,任一點(diǎn)的溫度,每隔2min記錄一次,30min內(nèi)共得16個溫度值 | ||||
| 計(jì)算方法 | 均勻度 | 1.計(jì)算中心點(diǎn)的平均溫度 2.計(jì)算其余各點(diǎn)與中心點(diǎn)的平均溫度之差 3.將所有正偏差相加后,除上正偏差的個數(shù),求出正側(cè)平均偏差 4.將所有負(fù)偏差相加后,除上負(fù)偏差的個數(shù),求出負(fù)側(cè)平均偏差 5.正側(cè)平均偏差與負(fù)側(cè)平均偏差的值之和的一半,冠以±號,即該標(biāo)稱溫度的溫度均勻度 | 計(jì)算各試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)的平均溫度差,其中的zui大值與zui高工作溫度之比即干燥箱的溫度均勻性 | 利用在30min內(nèi)的15次測試數(shù)據(jù),求出每次測試中zui高與zui低溫度之差的算術(shù)平均值,為該標(biāo)稱溫度下的溫度均勻度 | |
| 波動度 | 1.計(jì)算中心點(diǎn)的10次測試值與中心點(diǎn)的平均溫度之差 2.將所有正偏差相加后,除上正偏差的個數(shù),求出正側(cè)平均偏差 3.將所有負(fù)偏差相加后,除上負(fù)偏差的個數(shù),求出負(fù)側(cè)平均偏差 4.正側(cè)平均偏差與負(fù)側(cè)平均偏差的值之和的一半,冠以±號,即該標(biāo)稱溫度的溫度波動度 | 取其zui大值與zui小值之差的一半,冠以±號,即干燥箱的波動度 | 利用在30min內(nèi)的15次測試數(shù)據(jù),求出中心測試點(diǎn)15次測試值中zui高與zui低溫度之差的一半,冠以±號,為該標(biāo)稱溫度下的溫度波動度 | ||
| 偏差 | 干燥箱與高溫試驗(yàn)箱的區(qū)別 | | 利用24H的測試數(shù)據(jù),分別算出zui高、zui低溫度與標(biāo)稱溫度之差,為試驗(yàn)箱在該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差 | ||