研究級經(jīng)典型橢偏儀儀器簡介：
    20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進(jìn)行zui精確的測量。采用PEM相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。

技術(shù)參數(shù)：
可選光譜范圍：
       * UVISEL Extended Range(190nm -2100 nm)
       * UVISEL NIR (250 nm -2100 nm )
       * UVISEL VIS (210 nm -880 nm )
       * UVISEL FUV(190 nm -880 nm )
       * UVISEL VUV(142 nm -880 nm )
       * 多種實(shí)用微光斑尺寸選項(xiàng)
       * 探測器：分別針對紫外，可見和近紅外提供優(yōu)化的PMT和IGA探測器
       * 自動樣品臺尺寸：多種樣品臺可選
       * 自動量角器：變角范圍35° - 90°，全自動調(diào)整，zui小步長0.01°

研究級經(jīng)典型橢偏儀主要特點(diǎn)：
       * 50KHz 高頻PEM 相調(diào)制技術(shù)，測量光路中無運(yùn)動部件
       * 具備超薄膜所需的測量精度，超厚膜所需的高光譜分辨率
       * 具有毫秒級超快動態(tài)采集模式，可用于在線實(shí)時監(jiān)測
       * 自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學(xué)反應(yīng)池、液體池、密封池等多種附件
       * 配置靈活