納米粒度儀儀器簡(jiǎn)介：

SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀? 是 HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置，可更高靈敏度、高精度地評(píng)價(jià)單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。該儀器被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測(cè)。

高靈敏度、高精度的測(cè)量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)

納米粒度儀應(yīng)用范圍 
● 陶瓷粒子　● 金屬納米粒子　● 碳黑　● 制藥　● 病毒　● 涂料
● 化妝品　　● 聚合物　　 　 ● 食品　● ＣＭＰ● 顏料、油墨

納米粒度儀技術(shù)參數(shù)：

粒子直徑測(cè)定
● 超寬動(dòng)態(tài)光散射測(cè)量范圍:　0.3nm～8000nm
●通過采用與NEDO國家項(xiàng)目共同開發(fā)的相關(guān)器，實(shí)現(xiàn)高性能化。
●在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)。
●雙光路系統(tǒng)（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測(cè)量，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測(cè)定。

Zeta電位測(cè)定
●通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)微型樣品池，可以測(cè)定僅100μL的樣品。

納米粒度儀主要特點(diǎn)：

●超小體積設(shè)計(jì)
● 可測(cè)納米粒子的三個(gè)重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
●樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測(cè)定。
●HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池， 可以測(cè)定僅100μL的Zeta電位。
●廣泛應(yīng)用于膠質(zhì)粒子、 機(jī)能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測(cè)定。
●操作簡(jiǎn)單，進(jìn)樣、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測(cè)量結(jié)果。