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產品描述

·無限遠光學系統(tǒng)，涵蓋明場、偏光、微分干涉等觀察方式。

·反射、透射兩種照明系統(tǒng)可選擇。長工作距離平場復消色差物鏡。

·適用于半導體工業(yè)、電子工業(yè)、材料研究等領域。

產品規(guī)格

WF-10R 微分干涉檢測顯微鏡

 無限遠光學系統(tǒng)，長工作距離平場復消色差物鏡，穩(wěn)定可靠的架臺，精確的調焦機構。廣泛應用于半導體工業(yè)、電子工業(yè)、材料科研等領域。DIC觀察模式尤其適合液晶顯示屏導電板的檢測。

規(guī)格配置：

1.無限遠光學系統(tǒng)：F=200MM

2.光學放大倍數：50X、100X、200X

3.觀察方式：明場、偏光、微分干涉

4.長工作距離：20-45MM

5.調焦范圍：60MM

6.平臺移動范圍：X：±75MM、Y：±75MM

7.照明系統(tǒng)：垂直LED照明、透射LED照明

8.成像裝置：數字相機或模擬攝像頭

觀察方式：

1.明場觀察：亮度可調同軸LED照明，視野清晰明亮，適合集成電路的檢驗、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測和品質控制。

2.透射觀察：采用亮度可調的透射照明，可觀察透明樣品，尤其適合用戶液晶顯示屏的品質檢測，能清楚的觀察發(fā)光屏的三色模塊。

3.偏光觀察：系統(tǒng)內裝置偏光機構?？烧{的檢偏鏡，便于正交觀察。廣泛應用于金相試樣、巖礦、煤巖、高分子試樣等偏光觀察。

4.DIC觀察--微分干涉觀察：在系統(tǒng)插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡），能突出樣品各組成之間的相對層次關系，使之呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能做出正確的判斷。DIC顯微鏡觀察法特別適用于液晶顯示屏導電板的檢測，能夠清楚的觀察到導電板基板上的導電粒子。

微分干涉檢測顯微鏡

微分干涉檢測顯微鏡

微分干涉檢測顯微鏡

微分干涉檢測顯微鏡