產(chǎn)品詳情:
測(cè)量范圍:波長(zhǎng)測(cè)量范圍為 800-1700nm,可 1nm 增量設(shè)置,能在 100dB 動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,適用于低功率或高功率測(cè)量場(chǎng)景。
接口適配:標(biāo)準(zhǔn)配備 2.5mm 通用推拉式(UPP)光接口適配器,可選 1.25mm 適配器,兼容所有類型的光連接器。
操作界面:配備 3.5 英寸彩色觸摸屏,帶有觸摸筆,操作便捷,界面直觀。
光纖檢測(cè):可擴(kuò)展 P5000i 顯微鏡,能自動(dòng)進(jìn)行光纖端面 “合格 / 不合格" 分析,也可使用跳線顯微鏡分析,方便用戶檢查光纖端面質(zhì)量。
閾值設(shè)置:用戶可自主設(shè)置功率和損耗 “合格 / 不合格" 分析的門(mén)限值,滿足不同測(cè)試需求。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與傳輸:支持光纖檢查和測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ),且?guī)в袝r(shí)間標(biāo)識(shí),可通過(guò) USB 或以太網(wǎng)接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸和遠(yuǎn)程控制,便于數(shù)據(jù)管理和分析。
測(cè)試功能:具有自動(dòng)波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)測(cè)試功能,可與 VIAVI 光源自動(dòng)配合,還具備在線損耗測(cè)試選項(xiàng),提升測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
外觀設(shè)計(jì):采用緊湊堅(jiān)固的耐候設(shè)計(jì),結(jié)實(shí)耐用且防雨,適合在各種惡劣環(huán)境下使用,同時(shí)具備智能開(kāi)機(jī)功能,可瞬間開(kāi)機(jī)。
- KEYSIGHT/美國(guó)是德
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- TeKtronix/美國(guó)泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- Santec/日本
- FLUKE/福祿克
- Keithley/美國(guó)吉時(shí)利
- EXFO/加拿大
- YOKOGAWA/日本橫河
- Anritsu/安立
- ESPEC/愛(ài)斯佩克
- HP/惠普
- SRS/斯坦福
- Ceyear/思儀
- 美國(guó)力科
- SIGLENT/鼎陽(yáng)
- ADCMT/愛(ài)德萬(wàn)
- Bristol/美國(guó)
- FUJIKURA/藤倉(cāng)
- HIOKI/日本日置
- Newport/美國(guó)
- SUMITOMO/住友
- LitePoint/萊特波特
- KIKUSUI/日本菊水
- 古河蓄電池
- OLYMPUS/奧林巴斯
- BCHP/中惠普
- Chroma/致茂
- RIGOL/普源
- OceanOptics/海洋光學(xué)
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- Thorlabs
- ThermoTST
- SPIRENT/思博倫
- Bruker/布魯克
- inTEST
- GWINSTEK/中國(guó)臺(tái)灣固緯
- Hitachi/日立
- VIAVI
- YINUO/一諾儀器
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國(guó)臺(tái)灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- Ophir
- BIRD/美國(guó)鳥(niǎo)牌
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- Aeroflex
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- TESEQ/特測(cè)
- 中國(guó)臺(tái)灣博計(jì)
- EEC/中國(guó)臺(tái)灣華儀
- AP(Audio Precision)/美國(guó)
- 同惠電子
- HAMEG/德國(guó)惠美
- Nikon/日本尼康
- TDK-LAMBDA/日本
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus
- 牛頓光學(xué)