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QQ交談Filmetrics膜厚測量儀的基本原理
點(diǎn)擊次數(shù)：3617 發(fā)布時(shí)間：2016-8-30
Filmetrics膜厚測量儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品薄膜的厚度，這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。
Filmetrics膜厚測量儀原理分類
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
點(diǎn)接觸式測厚儀
面接觸時(shí)測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同，又可分為以下幾種：
激光測厚儀
超聲波測厚儀
涂層測厚儀
X射線測厚儀
白光干涉測厚儀
電解式測厚儀
管厚規(guī)
Filmetrics膜厚測量儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
涂層測厚儀：
涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）
Filmetrics膜厚測量根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價(jià)格昂貴，測量精度也不高。
4.電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法：此處儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬RMB以上），適用于一些特殊場合。
Filmetrics膜厚測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
Filmetrics膜厚測量儀注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
Filmetrics膜厚測量儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。