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日本理學(xué)臺式波長色散X射線硫（S）分析儀的特點
Micro-Z ULS
理學(xué)Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀（WDXRF）除了是為石油以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計外，還擁有一個新的特征，那就是可以同時測定硫的峰強和背景強度。獲得一個更好的凈峰強度測定需要測定并校正背景強度變化的能力，從而具有*的校正以及提高精度的能力。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。
ASTM D2622性能用于初學(xué)用戶
為初學(xué)用戶進行特殊設(shè)計，可通過簡易操作界面進行從校正到例行分析的所有操作。該分析儀可使用任意標(biāo)準墻壁電源插座供電。
的光學(xué)器件用于可靠的硫分析
理學(xué)Micro-Z ULS是適用于石油基燃料的硫分析，帶有一個更低的0.3 ppm硫的檢測限（LLD）。 在一個真空環(huán)境中使用堅固的器件和一個特殊設(shè)計的雙曲RX-9分析晶體，Micro Z ULS進行連續(xù)的高靈敏度測定。
特征和應(yīng)用
石油和汽油的超低硫分析
0.3 ppm檢測低限（LLD）
無需He(g)凈化
簡易使用臺式分析儀
遵照ASTM D2622-10
遵照ISO 20884
遵照JIS K2541-7