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CSK-IIIA超聲波標(biāo)準試塊

中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準試塊 JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。標(biāo)準試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準和檢測校準的試塊。標(biāo)準試塊應(yīng)采用與被檢測工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測時，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。對比試塊是指用于檢測校準的試塊。對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其zui大厚度來確定。
CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA標(biāo)準試塊
適用于壁厚范圍為6-120mm的焊接接頭，CSK-IA和CSK-IVA系列試塊用壁厚范圍大于120-400mm的焊接接頭。

技術(shù)參數(shù)：

型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國標(biāo)）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10

試塊檢測報告:

備注:校準（檢驗）所用主要計量標(biāo)準器

1.游標(biāo)卡尺

2.千分尺

3.微孔測量儀

4.三坐標(biāo)測量儀

5.超聲波探傷儀

6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗

7.*金相顯微鏡

8.樣板平尺

9.粗糙度儀.

產(chǎn)品關(guān)鍵字：超聲波探傷試塊，CSK-IIIA超聲波檢測試塊,CSK-IIIA碳鋼試塊，CSK-IIIA超聲波標(biāo)準試塊，鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準試塊