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當(dāng)前位置：北京中慧天誠科技有限公司>>實驗室檢測設(shè)備>> GDS/KDY-1A便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀（成套） GDSKDT-1 B探頭型號：GDS/KDY-1A

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產(chǎn)品型號GDS/KDY-1A

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更新時間：2021-06-08 13:29:09瀏覽次數(shù)：1152次

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實驗室檢測設(shè)備: 直讀式鐵譜儀多元素分析儀

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產(chǎn)品簡介

1、半導(dǎo)體材料電阻率的及標(biāo)準(zhǔn)測試方法。
2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。
3、電阻率測量范圍復(fù)蓋Z常用的區(qū)段：0.01—199.9Ω·cm 。

詳情介紹

便攜式電阻率測試儀/方阻測試儀（成套） GDSKDT-1 B探頭型號：GDS/KDY-1A

貨號：ZH420

產(chǎn)品簡介

1、半導(dǎo)體材料電阻率的及標(biāo)準(zhǔn)測試方法。
2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。
3、電阻率測量范圍復(fù)蓋zui常用的區(qū)段：0.01—199.9Ω·cm 。
     方塊電阻測量范圍復(fù)蓋zui常用的區(qū)段：0.1—1999Ω/□。
4、配置高精度恒流源，測量電流穩(wěn)定，分兩檔：1mA、10mA，每檔在大范圍內(nèi)調(diào)節(jié)（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、測量精度高：電器測量精度優(yōu)于0.3%；
     整機(jī)測量誤差：測量1-100Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±3%。
     測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±5%。
6、重量輕，約2.5kg；體積?。?40×210×100（mm）。
7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。