產(chǎn)品分類品牌分類
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鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
差示掃描量熱儀和差熱分析儀有什么區(qū)別?
DTA(差熱分析儀)只可以做定性或者是半定量分析,但是DSC(差示掃描量熱儀)可以做嚴(yán)格的定量分析,原因在于DTA獲得的是deltaT與溫度T之間的關(guān)系,而DSC獲得的是deltaH與T之間的關(guān)系,因此前者無法定量分析,但后者可以。
差示掃描量熱儀和差熱分析儀所測(cè)出來的曲線趨勢(shì)大致一樣,就是物理意義不同,差示掃描量熱儀測(cè)量的是程序控制溫度條件下,樣品和參比物之間功率差與溫度的關(guān)系,而差熱分析儀測(cè)量的是程序控制溫度條件下,樣品和參比物之間溫度差與溫度或時(shí)間的關(guān)系。從熱學(xué)和熱統(tǒng)的知識(shí)看,他們曲線是一致的。升溫過程中,樣品開始開始反應(yīng)時(shí)的升溫速率和程序控制的升溫速率是不一致的,是因?yàn)闃悠烽_始開始反應(yīng)時(shí)的升溫速率起初可能跟不上程序控制的升溫速率,導(dǎo)致溫度有一定的滯后。
差示掃描量熱儀(DSC)將與材料轉(zhuǎn)變相關(guān)聯(lián)的溫度和熱流作為時(shí)間和溫度的函數(shù)進(jìn)行確定。該儀器還提供物理轉(zhuǎn)變(由相變化、熔化、氧化以及其他與熱相關(guān)的變化引起)期間材料吸熱(熱量吸收)和放熱(熱量散發(fā))過程的定量與定性數(shù)據(jù)。