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鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
材料的介電溫譜測(cè)量
在交變電場(chǎng)作用下，電介質(zhì)有弛豫現(xiàn)象，電介質(zhì)的電容率是與電場(chǎng)頻率相關(guān)的，描述這種關(guān)系的方程稱為德拜方程，其表示式如下：
一、原理
在交變電場(chǎng)作用下，電介質(zhì)有弛豫現(xiàn)象，電介質(zhì)的電容率是與電場(chǎng)頻率相關(guān)的，描述這種關(guān)系的方程稱為德拜方程，其表示式如下：
溫度對(duì)弛豫極化有影響， 因此也影響到介質(zhì)損耗功率 Pw、介電常數(shù) εr、損耗角正切 tanδ的變化。溫度升高，弛豫極化增加，且離子間易發(fā)生移動(dòng)，所以極化的弛豫時(shí)間 τ減小。具體情況可結(jié)合德拜方程分析。
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備
本實(shí)驗(yàn)采用 LCR 數(shù)字電橋和高低溫試驗(yàn)室，進(jìn)行電容器介電頻譜的測(cè)量，可同時(shí)自動(dòng)
獲得主參數(shù)電容量（C）和輔參數(shù)損耗角正切值（D）或因子（Q），其中的電容量 C 結(jié)合樣品的幾何參數(shù)后，可計(jì)算出相應(yīng)的介電系數(shù)εr。
三、測(cè)量準(zhǔn)備
1、對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行編號(hào)，并測(cè)量樣品的直徑和厚度，記錄下來(lái)。
2、打開高低溫試驗(yàn)箱的樣品室，將待測(cè)樣品按編號(hào)依次用電烙鐵焊在樣品盒上，關(guān)上樣品室的門。
四、測(cè)量步驟
1. 依次打開高低溫試驗(yàn)箱、 LCR 測(cè)試儀、電子轉(zhuǎn)換開關(guān)、 計(jì)算機(jī)的電源， 打開 “LRC實(shí)驗(yàn)控制平臺(tái) ”軟件，對(duì)實(shí)驗(yàn)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。
2.關(guān)閉 LRC 實(shí)驗(yàn)控制臺(tái)，關(guān)閉設(shè)備的電源。