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鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
鐵電分析儀可測(cè)DHM動(dòng)態(tài)電滯回線
鐵電分析儀可測(cè)DHM動(dòng)態(tài)電滯回線
一、電滯回線是什么？
電滯回線（Hysteresis Loop）是指在較強(qiáng)的交變電場(chǎng)作用下，鐵電體的極化強(qiáng)度P隨外電場(chǎng)E呈非線性變化的現(xiàn)象。這種變化表現(xiàn)為P相對(duì)于E的雙值函數(shù)，顯示出滯后現(xiàn)象，即當(dāng)電場(chǎng)方向改變時(shí)，極化強(qiáng)度不會(huì)立即跟隨變化，而是有一定的滯后。這種P-E（或D-E）關(guān)系的圖形就稱為電滯回線。
二、電滯回線的應(yīng)用
電滯回線在材料科學(xué)研究中具有重要應(yīng)用，特別是在鐵電材料性能研究和多鐵材料研究領(lǐng)域。通過(guò)測(cè)試動(dòng)態(tài)電滯回線，研究人員可以研究鐵電材料的相變行為，觀察材料在不同溫度、電場(chǎng)頻率等條件下從鐵電相到順電相的轉(zhuǎn)變過(guò)程。此外，動(dòng)態(tài)電滯回線的形狀、大小等變化可以幫助了解鐵電疇在電場(chǎng)作用下的翻轉(zhuǎn)、合并等動(dòng)態(tài)過(guò)程，從而深入理解材料的微觀結(jié)構(gòu)與宏觀性能關(guān)系。
華測(cè)儀器鐵電分析儀
三、華測(cè)儀器鐵電分析儀參數(shù)
l 輸出范圍：±100V或±200V，可擴(kuò)展至10kV；
l 可定制內(nèi)置放大器最大電壓：最大頻率：1MHz；最大電流：1A;
l 16位任意波形發(fā)生器輸出；
l 內(nèi)置±100V和±200V兩種放大器；
l 準(zhǔn)確性0.5%或更高；
l 最小脈沖寬度(PUND)：500ns；
l 最小上升時(shí)間：200ns；
l 最大脈沖寬度低至1μs，最高可達(dá)15us；
l 最大區(qū)域分辨率：52.6mC；
l 最大遲電滯回線頻率：270KHz；
l 模擬輸入通道:高達(dá)40MS/s，±10V(16位)；
l 最大測(cè)試電容范圍:1nF(與測(cè)試頻率有關(guān))；
l 輸出阻抗:10Ω；
四、華測(cè)儀器鐵電分析儀可測(cè)試項(xiàng)目
測(cè)試項(xiàng)目：動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)量（DHM）、泄漏電流測(cè)量（LM）、CV測(cè)量（CVM）、疲勞測(cè)量（FM）、保持力測(cè)量（RM）、印記測(cè)量（IM）、脈沖測(cè)量（PM）、靜態(tài)電滯回線測(cè)量（SHM）、擊穿電壓測(cè)量（BDM）、壓電測(cè)量（PZM）、熱釋電測(cè)量（PYM）、熱刺激測(cè)量（TSDC）、介電溫譜測(cè)量（DTS）、高低溫電阻測(cè)量（TIR）、充放電測(cè)試（ESD）
