產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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多通道電流矩陣模塊 鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
解密壓電陶瓷性能測(cè)試:華測(cè)儀器常溫與高溫d33測(cè)試儀核心差異解析
解密壓電陶瓷性能測(cè)試:華測(cè)儀器常溫與高溫d33測(cè)試儀核心差異解析
壓電陶瓷作為一種重要的功能材料,憑借其專(zhuān)有的壓電性能,在傳感器、換能器、精密控制等領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。其中,縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是衡量壓電材料性能的核心參數(shù),直接關(guān)系到材料及器件的能量轉(zhuǎn)換效率與穩(wěn)定性。然而,壓電陶瓷參數(shù)的離散性和測(cè)試環(huán)境的復(fù)雜性,對(duì)測(cè)試儀器的精度與適應(yīng)性提出了較高要求。北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“華測(cè)儀器")深耕壓電材料測(cè)試技術(shù),推出的常溫與高溫壓電系數(shù)d33測(cè)試儀,憑借精確的測(cè)量能力和廣泛的適用性,成為材料研發(fā)與器件評(píng)價(jià)的關(guān)鍵工具。
常溫壓電系數(shù)測(cè)試儀
一、常溫壓電系數(shù)d33測(cè)試儀:多參數(shù)集成,賦能基礎(chǔ)性能研究
常溫環(huán)境是壓電材料較常見(jiàn)的應(yīng)用場(chǎng)景,也是材料性能篩選與基礎(chǔ)研究的核心環(huán)節(jié)。華測(cè)儀器常溫壓電系數(shù)d33測(cè)試儀以“高的精度、多參數(shù)、易操作"為設(shè)計(jì)理念,專(zhuān)為常溫下鐵電、壓電材料及器件的性能評(píng)價(jià)打造。
核心優(yōu)勢(shì)與功能
超高分辨率與多參數(shù)同步測(cè)量:儀器分辨率可達(dá)0.01pC/N,確保微量電荷信號(hào)的精確捕捉。除核心參數(shù)d33外,還支持d31、d15等壓電系數(shù),以及電容、電量、介電損耗(tanδ)的同步測(cè)量,并可自動(dòng)計(jì)算壓電電壓常數(shù)g33、介電常數(shù)εT33等衍生參數(shù),實(shí)現(xiàn)材料性能的各方面評(píng)估。
穩(wěn)定激振與高精度信號(hào)采集:采用數(shù)字合成DDS芯片函數(shù)發(fā)生器,為激振器提供頻率穩(wěn)定的激勵(lì)信號(hào);搭配進(jìn)口高的精度激振器,確保振動(dòng)頻率的準(zhǔn)確性與重復(fù)性。電荷測(cè)量環(huán)節(jié)則采用高阻電荷放大器,有效抑制噪聲干擾,保障弱信號(hào)采集的精度。
廣泛適用性:無(wú)論是壓電陶瓷、壓電薄膜還是高分子壓電材料,均可通過(guò)該儀器完成性能測(cè)試,適用于高校實(shí)驗(yàn)室、科研院所及企業(yè)研發(fā)部門(mén)的材料篩選與器件性能驗(yàn)證。
高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀
二、高溫壓電系數(shù)d33測(cè)試儀:惡劣環(huán)境下的性能追蹤
許多壓電器件需在高溫環(huán)境下長(zhǎng)期工作(如航空航天、石油勘探等領(lǐng)域),材料的壓電性能隨溫度的變化規(guī)律(即“壓電溫譜")成為關(guān)鍵研究指標(biāo)。華測(cè)儀器高溫壓電系數(shù)d33測(cè)試儀針對(duì)高溫環(huán)境的特殊性,融合FPGA數(shù)字技術(shù)與弱信號(hào)采集優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)了高溫條件下的精準(zhǔn)測(cè)試。
核心差異與技術(shù)亮點(diǎn)
高溫環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計(jì):儀器內(nèi)置高溫測(cè)試腔,可模擬材料實(shí)際工作的高溫環(huán)境(具體溫度范圍需根據(jù)型號(hào)確定),配合專(zhuān)業(yè)激振器作為振源,確保高溫下激勵(lì)信號(hào)的穩(wěn)定性與振動(dòng)傳遞效率。
FPGA數(shù)字技術(shù)與弱信號(hào)采集:采用FPGA數(shù)字技術(shù)生成測(cè)試頻率,進(jìn)一步提升頻率控制的精度與抗干擾能力;依托華測(cè)儀器在弱信號(hào)采集領(lǐng)域的技術(shù)積累,即使在高溫導(dǎo)致材料信號(hào)衰減、噪聲增強(qiáng)的情況下,仍能準(zhǔn)確捕捉壓電電荷信號(hào),繪制d33隨溫度變化的壓電溫譜圖,直觀(guān)反映材料的高溫穩(wěn)定性。
操作便捷與數(shù)據(jù)可靠性:儀器支持自動(dòng)化測(cè)試流程,用戶(hù)可設(shè)置溫度梯度與測(cè)試參數(shù),系統(tǒng)自動(dòng)完成數(shù)據(jù)采集與分析,減少人工干預(yù)誤差。高溫環(huán)境下的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性設(shè)計(jì)(如耐高溫電極、隔熱保護(hù)等),則確保了長(zhǎng)期測(cè)試的可靠性。
三、常溫與高溫測(cè)試儀:定位不同,協(xié)同助力材料研發(fā)
兩款儀器雖同屬壓電系數(shù)d33測(cè)試設(shè)備,但應(yīng)用場(chǎng)景與技術(shù)側(cè)重點(diǎn)差異顯著:
常溫測(cè)試儀聚焦基礎(chǔ)性能測(cè)試,以多參數(shù)集成和高的精度為核心,滿(mǎn)足材料篩選、器件常溫性能評(píng)價(jià)的需求;
高溫測(cè)試儀則針對(duì)劣環(huán)境,通過(guò)高溫適配設(shè)計(jì)與溫譜分析功能,揭示材料在溫度變化下的性能演化規(guī)律,為高溫器件的可靠性設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐。
二者相輔相成,共同構(gòu)建了從常溫到高溫的壓電材料性能測(cè)試體系,幫助科研人員全面掌握材料特性,加速高性能壓電材料與器件的研發(fā)進(jìn)程。
壓電材料的性能測(cè)試是連接材料研發(fā)與實(shí)際應(yīng)用的橋梁,華測(cè)儀器常溫與高溫壓電系數(shù)d33測(cè)試儀以技術(shù)創(chuàng)新為驅(qū)動(dòng),為不同場(chǎng)景下的測(cè)試需求提供了精確、可靠的解決方案。無(wú)論是常溫下的多參數(shù)快速篩查,還是高溫下的性能長(zhǎng)期追蹤,兩款儀器均憑借過(guò)硬的技術(shù)實(shí)力,成為壓電材料研究領(lǐng)域的得力助手。未來(lái),隨著新能源、智能制造等領(lǐng)域的發(fā)展,華測(cè)儀器將持續(xù)深耕測(cè)試技術(shù),為功能材料的創(chuàng)新應(yīng)用賦能。
兩者參數(shù)的區(qū)別