空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（小于 10 mil）量測值偏低,。

詳細(xì)介紹

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表
BH916測試裝置GDAT高頻Q表
平板電容極片Φ50mm/Φ38mm

可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調(diào)范圍≥15mm

頻率指示誤差3×10-5±1個(gè)字
夾具插頭間距25mm±0.01mm

主電容調(diào)節(jié)范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm

主調(diào)電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz）

Q測試范圍2～1023

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