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梅特勒托利多 METTLER TOLEDO

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產(chǎn)品樣本:XPE微量分析天平

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XPE微量分析天平
適用于微量樣品的稱量
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微量分析天平特別適用于微量樣品的稱量。
XPE56微量分析天平具有1μg的可讀性,大稱量值可
達(dá)52g,提供52,000,000的至高分辨率。XPE56具有至
高靈敏性和經(jīng)久耐用性,非常適用于將微量樣品直接
加入大的去皮容器中進(jìn)行稱量。

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