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高低溫箱品牌 高低溫試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子比較好?
  • 高低溫箱品牌 高低溫試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子比較好?
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貨物所在地:廣東東莞市

更新時(shí)間:2025-03-11 21:00:32

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高低溫箱品牌 高低溫試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子比較好?適用于工業(yè)企業(yè)的實(shí)驗(yàn)室、研究室、品質(zhì)部、生產(chǎn)部,或者高校大學(xué)的實(shí)驗(yàn)室、國(guó)家機(jī)構(gòu)的計(jì)量單位、*單位等部門(mén)與企業(yè)。常用于化工行業(yè)、電子行業(yè)、LED光電行業(yè)、塑膠五金行業(yè)、玩具行業(yè)、日常用品行業(yè)、模具、印刷、汽配、機(jī)械等制造業(yè)。應(yīng)用廣泛、銷(xiāo)量處于檢測(cè)儀器。

今天愛(ài)佩科技先說(shuō)說(shuō)高低溫箱品牌 高低溫試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子比較好?的用途、介紹、性能與參數(shù)。高低溫試驗(yàn)設(shè)備就是一臺(tái)可以模擬高溫及低溫的試驗(yàn)設(shè)備,當(dāng)然它還可以加入濕度功能做高低溫交變濕熱試驗(yàn),高低溫試驗(yàn)設(shè)備是指可以通過(guò)接電開(kāi)啟電源后可以隨意通過(guò)人工將需要做的高度、低溫、高低溫交變、高低溫恒定的時(shí)間、程序設(shè)定在控制器的軟件內(nèi),試驗(yàn)設(shè)備即會(huì)按照人工所設(shè)定的試驗(yàn)條件走,包括可以程序循環(huán),自動(dòng)停止工作或者故障報(bào)警等,高低溫交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備就是在高溫和低溫的基礎(chǔ)上再加上濕熱循環(huán)系統(tǒng),使做高溫的同時(shí)也可以加入濕度一起恒溫恒濕測(cè)試,使試驗(yàn)效果更接近自然環(huán)境中現(xiàn)實(shí)的氣候,模擬出更惡劣的自然環(huán)境,從而使被試驗(yàn)產(chǎn)品日后批量生產(chǎn)或者使用時(shí)性能會(huì)更加可靠及穩(wěn)定。

高低溫箱品牌 高低溫試驗(yàn)箱哪個(gè)牌子比較好?適用于工業(yè)企業(yè)的實(shí)驗(yàn)室、研究室、品質(zhì)部、生產(chǎn)部,或者高校大學(xué)的實(shí)驗(yàn)室、國(guó)家機(jī)構(gòu)的計(jì)量單位、*單位等部門(mén)與企業(yè)。常用于化工行業(yè)、電子行業(yè)、LED光電行業(yè)、塑膠五金行業(yè)、玩具行業(yè)、日常用品行業(yè)、模具、印刷、汽配、機(jī)械等制造業(yè)。應(yīng)用廣泛、銷(xiāo)量處于檢測(cè)儀器。

型號(hào)規(guī)格參數(shù)如下:

型號(hào)AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400㎜   外箱尺寸:970×1360×970㎜

型號(hào)AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500 ㎜   外箱尺寸:1070×1460×1070㎜

型號(hào)AP-GD-225  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600 ㎜   外箱尺寸:1070×1610×1170㎜

型號(hào)AP-GD-408  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800 ㎜   外箱尺寸:1170×1710×1270㎜

型號(hào)AP-GD-800  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 ㎜ 外箱尺寸:1550×1840×1290㎜

型號(hào)AP-GD-1000 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000㎜ 外箱尺寸:1550×1840×1470 ㎜ 

溫度范圍: -70℃~+150℃(可只選擇-40℃~+150℃;-20℃~+150℃;0℃~+150℃;)  

溫度波動(dòng)度:±0.5℃

溫度解析精度:0.01℃

溫度控制精度:±0.2℃

升溫/降溫時(shí)間:3.0℃/分鐘;1.0℃/分鐘(此升降溫速率是根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求的,要定制快速升降溫的顧客請(qǐng)下單時(shí)跟愛(ài)佩業(yè)務(wù)員說(shuō)明,謝謝)

電源:3φ5 380V AC±10%  50/60HZ或1φ3 220V AC±10%  50/60HZ(根據(jù)功率大小而配置)

執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;

GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法;

GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;

GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;。

MIL-STD810D方法502.2 標(biāo)準(zhǔn);

IEC 68-2-1-1990 中文名稱(chēng): 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)

EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

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