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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國馬爾 Mahr

德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國菲希爾Fischer測厚儀

德國Elektrophysik(EPK)

德國尼克斯QNix測厚儀

德國BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國狄夫斯高Defelsko

美國GE通用電氣

美國zygo干涉儀

美國API激光干涉儀

美國OGP影像測量儀

美國康寧CORNING TROPEL

美國環(huán)球Universal

美國Mark-10測力計(jì)

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢Proceq硬度計(jì)

奧地利EMCOTEST硬度計(jì)

表面處理層無損檢測系統(tǒng)

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[供應(yīng)]菲希爾FISCHER庫侖電解多層鍍鎳電位差測厚儀
菲希爾FISCHER庫侖電解多層鍍鎳電位差測厚儀
貨物所在地:
上海上海市
更新時(shí)間:
2025-06-30 09:13:35
有效期:
2025年6月30日--2025年12月28日
已獲點(diǎn)擊:
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【簡單介紹】菲希爾FISCHER庫侖電解多層鍍鎳電位差測厚儀
CULOSCOPE CMS:如果不能或不需要使用非破壞性方法,它是測量金屬或非金屬基材上幾乎所有金屬涂層(尤其是多層涂層)厚度的理想儀器。CULOSCOPE CMS STEP:除了具備COULOSCOPE®CMS的功能外,COULOSCOPE®CMS STEP還提供單個(gè)鍍層厚度和多個(gè)鎳鍍層的電位差的標(biāo)準(zhǔn)化step測試
【詳細(xì)說明】

CULOSCOPE CMS:如果不能或不需要使用非破壞性方法,它是測量金屬或非金屬基材上幾乎所有金屬涂層(尤其是多層涂層)厚度的理想儀器。CULOSCOPE CMS STEP:除了具備COULOSCOPE®CMS的功能外,COULOSCOPE®CMS STEP還提供單個(gè)鍍層厚度和多個(gè)鎳鍍層的電位差的標(biāo)準(zhǔn)化step測試(根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022

菲希爾FISCHER庫侖電解多層鍍鎳電位差測厚儀

—— 根據(jù)庫侖法同時(shí)測量涂層厚度和電位差
1、Fischer菲希爾Couloscope CMS測厚儀( 庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。
2、Fischer菲希爾Couloscope CMS測厚儀準(zhǔn)確地測量范圍在0.05- 40 μm ( 0.002 - 1.6 mils )之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
3、Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為-種標(biāo)準(zhǔn)的操作。

4種測量臺

COULOSCOPE® CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本 4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。

 

測量臺V18

測量臺V18有1個(gè)新

的測量槽設(shè)計(jì)。

測量臺V24

測量臺V24允許

靈活定位小工件。

測量臺V26

測量臺V26主要為簡單

和平面形狀的物體而設(shè)計(jì)。

測量臺V27

測量臺V27主要為在

線材上測量而設(shè)計(jì)。

 

COULOSCOPE CMS STEP——電位差的step測試

多層鎳的測定

STEPTest是在允許腐蝕的情況下用來同時(shí)測量電位差和多層鎳的鍍層厚度,該方法是這個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。

在電鍍行業(yè)中,對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測定變成了一個(gè)越來越重要的需求。多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層之間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度,并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護(hù).

應(yīng)用

COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。

 



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