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XDL230菲希爾X射線熒光測厚儀信息

2025-8-1  閱讀(71)

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL 是普遍適用的能量色散 X 射線測量儀器。它們特別適用于薄涂層的無損厚度測量和分析、批量生產(chǎn)的零件和印刷電路板的測量以及溶液分析。這些儀器非常適合質(zhì)量保證、來料檢驗和過程控制方面的測量。

典型應(yīng)用領(lǐng)域:

 • 電鍍量產(chǎn)零件的測量 • 薄涂層的檢測,例如裝飾性鍍鉻 • 電子和半導(dǎo)體行業(yè)功能涂層的分析 • 自動測量,例如印刷電路板 • 電鍍中的溶液分析 出色的精度和長期穩(wěn)定性是所有 FISCHERSCOPE X-RAY 系統(tǒng)的特點。重新校準(zhǔn)的必要性大大減少,節(jié)省了時間和精力。通過使用比例計數(shù)管實現(xiàn)高計數(shù)率,可以進行精確測量。FISCHER 的基本參數(shù)方法允許分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng),無需校準(zhǔn)。

XDL230測厚儀能量色散 X 射線熒光測量儀 (EDXRF) 用于確定薄可手動作的 XY 平臺,電機驅(qū)動的 Z 軸

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