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篤摯儀器（上海）有限公司
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菲希爾X射線熒光鍍層測(cè)厚儀基于X射線熒光分析原理。當(dāng)儀器發(fā)射的X射線照射到樣品表面時(shí)，鍍層及基體材料中的原子會(huì)吸收X射線的能量，使內(nèi)層電子被激發(fā)并躍遷到高能級(jí)。當(dāng)這些電子回到低能級(jí)時(shí)，會(huì)釋放出具有特定能量的熒光X射線。不同元素發(fā)射的熒光X射線能量不同，通過(guò)檢測(cè)這些熒光X射線的能量和強(qiáng)度，結(jié)合儀器內(nèi)置的校準(zhǔn)曲線和算法，就可以精確測(cè)量出鍍層的厚度以及元素組成。一）高精度測(cè)量菲希爾X射線熒光鍍層測(cè)厚儀采用先進(jìn)的探測(cè)器和信號(hào)處理技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)鍍層厚度的高精度測(cè)量。其測(cè)量精度可以達(dá)到微米甚至納米級(jí)別，能
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為什么要測(cè)量光澤度？質(zhì)量控制與產(chǎn)品一致性光澤度是評(píng)價(jià)產(chǎn)品外觀質(zhì)量的核心指標(biāo)，尤其在汽車(chē)涂料、家具、塑料、金屬、印刷品等行業(yè)中。通過(guò)測(cè)量可確保同一批次產(chǎn)品光澤度的一致性，避免因表面處理差異導(dǎo)致的質(zhì)量問(wèn)題。例如，陶瓷地磚需控制光澤度范圍，過(guò)高易反光泄露隱私，過(guò)低則顯得低檔?？陀^評(píng)估替代主觀判斷人眼對(duì)光澤的感知易受環(huán)境、角度及個(gè)體差異影響，存在主觀誤差。使用光澤度儀可提供標(biāo)準(zhǔn)化、可重復(fù)的數(shù)值化結(jié)果，消除主觀性。例如，BYK4563等儀器具備自動(dòng)校準(zhǔn)功能，確保測(cè)量精度。檢測(cè)表面缺陷與工藝問(wèn)題光澤度異常可
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菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPEX-RAY-XUL和XULM系列儀器是電鍍中快速測(cè)定涂層厚度的合適解決方案。在那里，大量樣品必須盡可能有效地通過(guò)質(zhì)量控制。因此，XUL系列的設(shè)計(jì)使笨重的樣品能夠手動(dòng)放置在測(cè)量室中。還可以選擇手動(dòng)XY載物臺(tái)，方便小零件的精確對(duì)齊。該裝置前部的直觀控制面板進(jìn)一步簡(jiǎn)化了操作。FISCHERSCOPEX-RAYXUL系列允許測(cè)量直徑為0.5毫米的點(diǎn)。這使得堅(jiān)固的儀器非常適合測(cè)量螺母、螺釘和其他電鍍表面。該儀器的許多常見(jiàn)應(yīng)用是在防腐行業(yè)。連接器、觸點(diǎn)、電線和PCB
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三豐小型表面粗糙度儀SJ-220是一款集眾多優(yōu)點(diǎn)于一身的測(cè)量?jī)x器。它在繼承SJ-210優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，進(jìn)行了升級(jí)，為用戶帶來(lái)新的粗糙度測(cè)量體驗(yàn)。三豐便攜式粗糙度儀SJ-220身材小巧，便于攜帶和操作，無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室還是在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，都能輕松應(yīng)對(duì)各種測(cè)量需求。其操作簡(jiǎn)便，即使是沒(méi)有測(cè)量經(jīng)驗(yàn)的用戶，也能快速上手。該儀器配備了2.8英寸超大觸摸屏，操作更加直觀簡(jiǎn)單。超大觸摸屏不僅顯示清晰，而且響應(yīng)迅速，讓用戶能夠輕松設(shè)置測(cè)量參數(shù)、查看測(cè)量結(jié)果。此外，三豐SJ-220還新增了對(duì)ISO21920標(biāo)準(zhǔn)的支持，使
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菲希爾XULM240FISCHER代理核心測(cè)量性能菲希爾X射線測(cè)厚儀XULM240寬泛量程與高精度可測(cè)量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)下精度達(dá)±5%（如Au層＞0.1μm時(shí)），無(wú)校準(zhǔn)模式精度±10%重復(fù)精度優(yōu)異，例如80nm金層的重復(fù)性誤差僅±2.5nm微區(qū)測(cè)量能力微聚焦X射線管設(shè)計(jì)，最小測(cè)量點(diǎn)達(dá)100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結(jié)構(gòu)比例計(jì)數(shù)器支持高達(dá)數(shù)千cps的計(jì)數(shù)率，提升測(cè)量效率多層與合金分析支持單層、雙層（含合金層）、三
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菲希爾X射線GOLDSCOPESD特點(diǎn)緊湊耐用設(shè)計(jì)采用臺(tái)式設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊且堅(jiān)固，適合長(zhǎng)期使用，符合EN61010、DINISO3497和ASTMB568等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。X射線熒光技術(shù)優(yōu)化硬件和軟件專(zhuān)為黃金及貴金屬分析優(yōu)化，采用X射線熒光（XRF）技術(shù)，無(wú)需樣品制備，實(shí)現(xiàn)無(wú)損、快速（典型測(cè)試時(shí)間5秒）且高精度分析。型號(hào)與探測(cè)器差異SD510/SD515：配備硅PIN探測(cè)器，適合快速檢測(cè)，適用于當(dāng)鋪、黃金買(mǎi)賣(mài)和小型實(shí)驗(yàn)室。SD520/SD550：配備硅漂移探測(cè)器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤
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菲希爾FISCHERSCOPEX-RAYXDL220的典型應(yīng)用包括以下領(lǐng)域：測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件：如汽車(chē)零部件、電子接插件等，適用于質(zhì)量控制場(chǎng)景。測(cè)量薄鍍層：例如裝飾性鍍鉻層（如首飾、衛(wèi)浴配件），可精確檢測(cè)亞微米級(jí)厚度。功能性鍍層分析：在電子工業(yè)中測(cè)量金、鎳、錫等鍍層厚度，確保導(dǎo)電性和耐腐蝕性（如半導(dǎo)體封裝、PCB板鍍層）。全自動(dòng)測(cè)量：通過(guò)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的X-Y平臺(tái)和可編程Z軸，實(shí)現(xiàn)印刷線路板等復(fù)雜樣品的自動(dòng)化批量檢測(cè)。電鍍?nèi)芤撼煞址治觯褐苯訖z測(cè)溶液中金屬離子濃度，優(yōu)化電鍍工藝參數(shù)
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菲希爾XDL230主要技術(shù)指標(biāo)：（標(biāo)★為重要參數(shù)）1、FISCHER代理測(cè)量原理：X射線熒光光譜法測(cè)量鍍層厚度2、測(cè)量方式：無(wú)損檢測(cè)，可自動(dòng)聚焦3、元素測(cè)量范圍:Cl（17）--U（92），zui多可測(cè)量24種元素23層鍍層。★4、手動(dòng)X/Y平臺(tái),移動(dòng)范圍≥95x150mm,可用工作臺(tái)面≥420x450mm5、電動(dòng)Z軸，手動(dòng)/自動(dòng)聚焦，可移動(dòng)范圍≥140mm★6、FISCHERXDL230采用DCM（測(cè)量距離補(bǔ)償法）可遠(yuǎn)距離對(duì)焦測(cè)量腔體樣品，可達(dá)80mm深度★7、滿足可變高壓30KV,40KV,
