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型號 全類型
品牌 其他品牌
廠商性質 經銷商
所在地 蘇州市

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更新時間：2023-12-01 14:40:03瀏覽次數：572

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原價	￥1500
參考價	￥1000	￥900	￥800
訂貨量	1-2000臺	2000-4000臺	4000-6000臺

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產品簡介

應用領域	綜合	光學系統(tǒng)：	同時3種通道檢測，可到達分辨率0.1um
?速系統(tǒng)：	6 inch 只要3分鐘	復判判斷：	內建整合DIC顯微鏡，可透過?倍率的?式對于瑕疵進?影像確認與分析.
分類模塊：	可針對瑕疵尺???進?分類統(tǒng)計，后續(xù)還可對于不同通道的訊號進?AI瑕疵分類.

Wafer光學量/檢測系統(tǒng)
?動?業(yè)顯微鏡系統(tǒng) (5X~150X)
Wafer 表?瑕疵檢測系統(tǒng) (1um)
Particle counter檢測設備 (0.1um)
光學系統(tǒng)：同時3種通道檢測，可到達分辨率0.1um
?速系統(tǒng)： 6 inch 只要3分鐘
復判判斷：內建整合DIC顯微鏡，可透過?倍率的?式對于瑕疵進?影像確認與分析.
分類模塊：可針對瑕疵尺???進?分類統(tǒng)計

詳細介紹

具備各種光學之應?與設備制造能?, 多年的產業(yè)經驗, 可靈活的搭配不同光機硬件設計, 并且客制化對應各種所需在線系統(tǒng)。完善的軟件團隊開發(fā)團隊, 開發(fā)3D量測軟件, 同時也??建構AI辨識系統(tǒng), 可根據項?需求提供客戶最完整的解決?案。具有SEMS 認證，特別開發(fā)應?于第三代半導體材料，克服透明與半透明材料的尋邊對位，可對不同尺寸晶圓進?傳送與檢驗。