ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況

-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測量的性

-測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)

SIDSP技術(shù)-技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭 
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢

MiniTest740測厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，良好的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

MiniTest740測厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。

MiniTest740測厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關(guān)的信號(hào)，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測量信號(hào)不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

SIDSP-測量信號(hào)高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的性能。

SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感。

在生產(chǎn)過程中，對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生

SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)

需要快速測量幾個(gè)點(diǎn)嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測量，SIDSP都能完成您的選擇！

優(yōu)點(diǎn)一覽

SIDSP使測量不受干擾，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件

ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況

篤摯儀器（上海）有限公司

：張磊

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