測(cè)厚儀elektrophysik德國(guó)EPK MiniTest 730涂層測(cè)厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表 
SIDSP探頭

測(cè)厚儀elektrophysik德國(guó)EPK MiniTest 730優(yōu)點(diǎn)一覽：

-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件

標(biāo)準(zhǔn)配置：                                     推薦配件:
帶塑料手提箱，內(nèi)含：                                                                                  -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架
-MiniTest 720(內(nèi)置探頭)
--或MiniTest 730（外置探頭）
--或MiniTest 740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
-2節(jié)AA電池