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德國馬爾Mahr6851517 高精度探針的設(shè)計(jì)
非常細(xì)間距的測(cè)試探針總是用于接觸非常近的測(cè)試點(diǎn)，支腳或焊盤在BGA芯片或連接器上印刷或焊接的距離非常小，標(biāo)準(zhǔn)和大型測(cè)試探針無法觸及。這些細(xì)間距探頭通常在沒有任何插座的情況下固定，可以減少足夠的間距空間。細(xì)間距彈簧針系列半導(dǎo)體探頭由高精度和罕見的材料，G4桶和具有大電流容量的鈀合金組成。這些特殊的測(cè)試探針為您帶來。
· 高電流測(cè)試能力
· 高頻率
· 高速傳輸
· 夾層組裝夾具或插座設(shè)計(jì)
· 高精度接觸能力
· 減少材料浪費(fèi)
· 穩(wěn)定的接觸，經(jīng)久耐用
晶圓測(cè)試探針是晶圓測(cè)試行業(yè)中重要的一部分，它可以提供準(zhǔn)確、可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)。晶圓測(cè)試探針是由多種材料制成的，它們可以檢測(cè)晶圓的接觸電阻，測(cè)量晶圓的電阻和電容，檢測(cè)晶圓的電容和電阻，并可以測(cè)量晶圓的電壓和電流。此外，晶圓測(cè)試探針還可以檢測(cè)晶圓的電子器件參數(shù)，如電容、電阻、電壓、功率、溫度等參數(shù)，因此可以檢測(cè)出晶圓的缺陷，從而保證晶圓的質(zhì)量。
晶圓測(cè)試探針具有高精度、快速響應(yīng)、良好的穩(wěn)定性、可靠性和可重復(fù)性等優(yōu)點(diǎn)，因此在晶圓測(cè)試行業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用。晶圓測(cè)試探針可以提供準(zhǔn)確、可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)，可以幫助晶圓廠家確保晶圓的質(zhì)量，為晶圓制造行業(yè)帶來更多的商機(jī)。
此外，晶圓測(cè)試探針還有一些其他優(yōu)勢(shì)，如靈活性、易于操作、低成本等，可以為晶圓測(cè)試行業(yè)提供更多的便利。因此，晶圓測(cè)試探針是晶圓測(cè)試行業(yè)中的一部分，它可以為晶圓制造行業(yè)帶來更多的商機(jī)。
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