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納米軟件案例之樣品溫度變化的電性能測(cè)試系統(tǒng)

閱讀：376 發(fā)布時(shí)間：2022-11-15

項(xiàng)目背景

納米軟件作為一家高新技術(shù)企業(yè)，投身于儀器自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域，立志要成為自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的優(yōu)秀企業(yè)，近日不斷有來(lái)自西安院校的需求，其中有一個(gè)希望我們能夠完成各類(lèi)樣品材料的測(cè)試數(shù)據(jù)采集與保存。

項(xiàng)目需求

(1)系統(tǒng)通過(guò)對(duì)單臺(tái)溫度爐(KSL-1100X或OTF-1200X)和單臺(tái)源表(吉時(shí)利SUM2450)的控制得到客戶(hù)被測(cè)產(chǎn)品的電阻值、電壓值、電流值。

(2) 一次測(cè)試過(guò)程僅放入一個(gè)被測(cè)樣品、一次測(cè)試時(shí)間至少滿(mǎn)足7小時(shí)。

(3) 一次測(cè)試最多采集16個(gè)溫度點(diǎn)位，1個(gè)溫度點(diǎn)位采集最多9000個(gè)數(shù)據(jù)。

納米軟件解決方案

樣品溫度變化的電性能測(cè)試系統(tǒng)由計(jì)算機(jī)、吉時(shí)利2450源表、KSL-1100X(OTF-1200X)溫度爐組成。樣品溫度變化的電性能測(cè)試系統(tǒng)軟件包含同時(shí)控制源表和一臺(tái)溫度爐進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的功能。樣品溫度變化的電性能測(cè)試系統(tǒng)的整體框架如圖所示。

項(xiàng)目成果

樣品溫度變化的電性能測(cè)試系統(tǒng)由設(shè)備連接、參數(shù)設(shè)置、運(yùn)行測(cè)試和數(shù)據(jù)處理四個(gè)模塊組成，各個(gè)模塊的作用如下：

設(shè)備連接：用于檢測(cè)軟件是否與源表和溫度爐正常通信連接；

參數(shù)設(shè)置：設(shè)置溫度爐被測(cè)溫度點(diǎn)和升溫時(shí)間，設(shè)置源表模式和參數(shù)；

運(yùn)行測(cè)試：根據(jù)所設(shè)置參數(shù)，程序控制儀器進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試；

數(shù)據(jù)處理：本地自動(dòng)保存所測(cè)數(shù)據(jù)，將所測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理后繪制為曲線(xiàn)；

運(yùn)行軟件進(jìn)入儀器設(shè)置界面。

將溫度爐通信端口填入。正常連接源表和溫度爐，連接正常指示燈顯示綠色。

在源表參數(shù)設(shè)置區(qū)域根據(jù)被測(cè)物品特性設(shè)置源表模式以及源數(shù)值，測(cè)量限值，根據(jù)需求設(shè)置采樣點(diǎn)數(shù)（最大9000點(diǎn)）和采樣間隔時(shí)間（最短為0.1s）。

在溫度爐參數(shù)設(shè)置區(qū)域輸入溫度點(diǎn)數(shù)和穩(wěn)定時(shí)間，下方表格會(huì)顯示相應(yīng)行數(shù)的溫度點(diǎn)參數(shù)設(shè)置，根據(jù)需要填寫(xiě)參數(shù)，第一個(gè)溫度點(diǎn)為室溫時(shí)請(qǐng)將溫度點(diǎn)1升溫時(shí)間設(shè)置為1min。

運(yùn)行測(cè)試界面分為實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示區(qū)、溫度曲線(xiàn)區(qū)、測(cè)試曲線(xiàn)區(qū)三個(gè)區(qū)域。

實(shí)時(shí)溫度曲線(xiàn)顯示從溫度爐獲取的溫度數(shù)據(jù)所繪制的曲線(xiàn)；

測(cè)試數(shù)據(jù)曲線(xiàn)在對(duì)應(yīng)溫度點(diǎn)數(shù)據(jù)測(cè)試完畢后可以進(jìn)行勾選并繪制曲線(xiàn)，曲線(xiàn)X坐標(biāo)軸可選為時(shí)間或溫度，Y軸可選為電壓，電流和電阻。通過(guò)Ctrl+鼠標(biāo)左鍵可以放大選擇區(qū)域的曲線(xiàn)，Ctrl+點(diǎn)擊鼠標(biāo)右鍵可以縮小曲線(xiàn)。點(diǎn)擊抓圖按鈕可以將曲線(xiàn)保存在本地。