透射電鏡三維重構樣品桿基于樣品端超薄設計或360°旋轉設計，滿足生命科學、材料科學領域對三維重構表征的不同需求。
透射電鏡三維重構樣品桿的技術優(yōu)勢：
1、高分辨率成像：支持電鏡極*分辨率下的三維重構，能夠揭示樣品在納米尺度下的精細結構。
2、非破壞性分析：通過電子束與樣品的相互作用獲取信息，無需對樣品進行特殊處理，避免了對樣品結構的破壞。
3、多維度信息獲取：結合EDS、EELS等技術，可同時獲取樣品的化學成分、電子態(tài)等信息，實現(xiàn)多維度分析。
4、高效數(shù)據(jù)處理：通過專用軟件實現(xiàn)自動化數(shù)據(jù)處理和三維重構，大幅縮短分析周期，提高實驗效率。
應用領域：
1、納米材料研究：用于分析納米顆粒、納米線、納米薄膜等材料的三維形貌和內部結構，揭示其生長機制和性能關聯(lián)。
2、生物科學：結合冷凍透射電鏡，用于分析蛋白質、病毒等生物大分子的三維結構，幫助理解其功能機制。
3、地質材料分析：對納米尺度地質材料進行三維分析，揭示其微觀結構和成分分布特征。
4、能源材料研究：用于分析電池材料、催化劑等在電化學反應過程中的三維結構演變，優(yōu)化材料設計。
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