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局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的使用方法

閱讀:1229        發(fā)布時(shí)間:2018-10-13
         KF-6209型局部放電檢測(cè)系統(tǒng)是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn),利用脈沖電流法原理研制而成,并滿(mǎn)足GB-7354-87、GB-1207-97、GB-1208-97中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。
1. 根據(jù)試品的容量Ca,耦合電容的大小Ck,選取適合序號(hào)的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級(jí)繞組并聯(lián)的電容(粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算)。例如:試品容量為120pF,耦合電容量為1000pF,則所需檢測(cè)阻抗為有          ≈107,查表1可取2號(hào)單元。
輸入單元應(yīng)盡量靠近試品,輸入單元經(jīng)8米長(zhǎng)的測(cè)量電纜與放大器輸入插座相連。
2. 試品接入輸入單元的方法有以下幾種:(其中:Z為阻塞阻抗;Ca為試品;Ck為耦合電容)


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